판매용 중고 SENTECH SE 400ADV #9286513

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer는 가시 영역에서 근적외선 (NIR) 으로 박막 표면을 분석하도록 설계된 다재다능하고 정확한 광학 측정 장비입니다. 이 시스템은 반도체 소자 개발 및 기타 광전자, 광학, 광학 코팅 측정 (optical coating measurement) 에 적용된 투명한 재료뿐만 아니라 매우 얇은 코팅도 감지하도록 설계되었습니다. SENTECH SE400ADV (SENTECH SE400ADV) 는 반사 된 빛의 편광 상태를 측정하여 표면의 필름의 광학적 특성을 정확하게 결정합니다. 이 장치는 고정밀도 및 반복성을 갖춘 자동/수동 정렬을 제공합니다. 또한 대규모 데이터 수집 메모리 (Data Acquisition Memory) 와 고속 데이터 획득 속도 (High Speed Data Acquisition Rate) 를 통해 확장 측정과 높은 처리량을 얻을 수 있습니다. SE 400ADV Ellipsometer는 기판의 필름 레이어에 대한 양적, 질적 정보를 제공 할 수 있습니다. 또한, 기계는 구성, 증착률, 지형, 적합성 및 두께를 포함한 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 헬름홀츠 (Helmholtz) 코일을 사용하여 배경 노이즈를 줄이고 더 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. SE400ADV 는 소프트웨어 인터페이스를 완벽하게 자동화하여, 쉽고 빠른 설치 및 데이터 수집을 지원합니다. 사용자는 측정 매개변수와 데이터 수집 매개변수를 정의할 수 있습니다. 직관적인 그래픽 인터페이스를 통해 빠른 실험 설계 및 데이터 처리가 가능합니다. 또한, 소프트웨어는 수집된 데이터에 대한 계산을 자동으로 생성하여 빠르고 쉽게 분석할 수 있습니다. SENTECH SE 400ADV는 또한 고급 분석 도구를 제공하여 사용자가 정량적 결과를 넘어설 수 있습니다. 에셋은 궤도 (orbital) 및 에너지 정규화 다이어그램 (energy regualization diagram) 을 포함하여 측정 된 필름 레이어를 자세히 시각화 할 수 있습니다. 또한, 분석 모델은 구성, 인터페이스 거칠기, 광학 상수 등을 포함한 고급 서피스 특성을 생성 할 수 있습니다. SENTECH SE400ADV Ellipsometer는 박막 표면을 분석하기 위해 설계된 사용하기 쉽고, 다재다능하며, 정확한 광학 측정 장비입니다. 반도체 소자 개발 및 기타 광전자, 광학, 광학 코팅 (optical coating) 측정에 이상적이며, 이는 빠른 데이터 획득률과 광범위한 분석 기능으로 인해 측정됩니다. 자동 소프트웨어 인터페이스 (Automated Software Interface) 와 고급 분석 시스템 (Advanced Analysis System) 을 통해 SE 400ADV 를 사용하면 성공적인 분석을 위해 필요한 모든 자료를 빠르고 정확하게 수집할 수 있습니다.