판매용 중고 SENTECH SE 400ADV #9252340

SENTECH SE 400ADV는 박막 재료 및 코팅의 광학 특성을 측정하도록 설계된 고정밀, 레이저 기반 타원계입니다. 이 장비는 간단한 단일 파장 측정 (single-wavength measurement) 에서 여러 입사각 및 파장에 이르기까지 다양한 측정 기능을 제공합니다. 고급 광학 설계를 통해 SENTECH SE400ADV (SENTECH SE400ADV) 는 다양한 표면 분석 연구에 대해 빠르고 정확한 데이터를 생성 할 수 있습니다. SE 400ADV에는 자동, 정밀 8축, 조이스틱 제어 스테이지가 장착되어 있어 고속 데이터 획득 및 각도 스캔이 가능합니다. 고해상도 CCD 카메라 및 소프트웨어 알고리즘을 사용하면 나노 미터 및 마이크로 미터 스케일 샘플을 모두 측정 할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 샘플과 기판을 더 잘 이미징하기 위해 저조도 모니터링 LED (low-light monitoring LED) 를 제공합니다. SE400ADV는 박막 재료의 각도와 두께를 모두 측정 할 수 있습니다. 표면 지형 및 광학 특성 측정을위한 비스듬한 관찰/측정 (oblique observation/measurement) 모드에서 작동합니다. 이 고급 시스템은 박막 특성 (Thin Film Properties) 의 평가에서 향상된 정확성과 해상도를 제공하는 편광 변조기, 파판 및 단색 장치 (Monochromator) 를 포함합니다. 또한 SENTECH SE 400ADV (Automated Computer-Controlled Interface) 를 통해 측정의 정확성과 반복성을 높이고 매우 정확한 보고서를 작성할 수 있습니다. 타원계와 사용자 컴퓨터 간의 USB 연결을 통해 데이터를 쉽게 전송할 수 있습니다. 또한, 이 장치에는 데이터 분석 및 해석을위한 고급 소프트웨어 (user-friendly graphical interface) 가 포함되어 있습니다. SENTECH SE400ADV는 박막 재료를 빠르고 쉽게 연구합니다. 자동/컴퓨터 제어 기능을 통해 이 장치는 높은 정확도, 반복성, 정확성, 측정 속도를 보장합니다. 기계의 고급 광학 설계 (Advanced Optical Design) 를 통해 여러 각도와 파장에 걸쳐 명확하고 정확한 정보를 생성할 수 있습니다. 이 도구는 전자 부품, 디스플레이 기술, 고급 광학 재료, 기타 등 다양한 업종의 요구에 적합합니다. 연구원, 엔지니어 및 제품 개발자는 모두 SE 400ADV 가 제공하는 정확한 데이터를 활용할 수 있습니다.