판매용 중고 SEMILAB SE-2010 #293822791

SEMILAB SE-2010 (SEMILAB SE-2010) 은 다양한 산업의 연구 개발 실험실에서 박막 특성을 위해 설계된 고정밀 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 재료 표면에서 반사시 빛의 편광의 변화를 측정하는 비파괴 광학 기법으로, 박막의 필름 두께, 굴절률 (refractive index) 및 기타 광학적 특성에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. SE-2010 타원계 (ellipsometer) 에는 정확하고 안정적인 박막 분석이 가능한 고급 기능과 기능이 장착되어 있습니다. SEMILAB SE-2010의 주요 요소 중 하나는 분광 타원법 (Spectroscopic ellipsometry) 기능으로, 다양한 파장, 일반적으로 자외선에서 근적외선까지 측정 할 수 있습니다. 이 스펙트럼 범위는 광학적 특성과 두께가 다른 박막 (thin film) 의 특성을 가능하게하며, 타원계의 다양성과 적용 성을 향상시킵니다. SE-2010 타원계는 얇은 필름 샘플과 상호 작용하면서 빛의 편광 상태 변화를 측정하는 원리에 기초하여 작동합니다. (예: SE-2010 타원계). 반사 된 빛의 p-및 s-polarized 구성 요소 사이의 진폭 비율 (amplitude ratio) 및 위상 차이 (phase difference) 와 같은 타원계 매개변수를 분석하면 타원계는 박막 특성에 대한 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 그런 다음 이러한 매개변수를 사용하여 필름 레이어의 두께 (thickness), 굴절률 (refractive index) 및 기타 광학 상수를 계산합니다. SEMILAB SE-2010 타원계 (ellipsometer) 는 모듈식 광학 구성으로 설계되어 특정 측정 요구 사항을 충족하는 맞춤형 구성이 가능합니다. 타원계에는 다양한 광원, 검출기, 광학 부품 (optical component) 이 장착되어 다양한 박막 샘플에 대한 측정 설정을 최적화할 수 있습니다. 이러한 구성의 유연성을 통해 SE-2010 은 각기 다른 측정 시나리오에 적응할 수 있으며, 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 분광학 기능 외에도 SEMILAB SE-2010 타원계는 다양한 박막 응용 프로그램에 적합한 다양한 측정 모드 및 기술을 제공합니다. 타원계는 단순 필름 구조의 빠른 분석을 위해 단일 파장 측정 (single-wavength measuration) 을 수행 할 수 있으며, 박막의 광학적 특성을 다른 입사각으로 연구하기위한 가변 각도 측정 (variable-angle measurement) 을 수행 할 수 있습니다. 또한 SE-2010 에는 높은 광학 이방성 (optical anisotropy) 또는 복잡한 광학 동작으로 샘플을 측정하기 위한 회전식 보정기 및 분석기 옵션이 있습니다. SEMILAB SE-2010 타원계는 직관적인 작동 및 데이터 분석을 가능하게 하는 전용 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어는 측정 매개변수 설정, 데이터 취득, 결과 처리를 위한 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공합니다. 고급 데이터 피팅 (Advanced Data Fitting) 알고리즘이 소프트웨어에 포함되어 타원법 측정에서 박막 매개변수를 정확하게 추출하여 고품질, 신뢰성 데이터 분석을 보장합니다. 전반적으로 SE-2010 타원계는 박막 특성화를위한 강력한 도구이며, 고급 분광학 기능, 다목적 측정 모드 및 사용자 친화적 인 작동을 제공합니다. 세밀랩 SE-2010 (SEMILAB SE-2010) 은 정확하고 박막 분석이 필수적인 재료 과학, 반도체 산업 및 기타 연구 분야에서 다양한 응용 분야에 적합합니다.