판매용 중고 RUDOLPH S3000S #9401470

RUDOLPH S3000S
제조사
RUDOLPH
모델
S3000S
ID: 9401470
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2010
Film thickness measurement system, 12" 2010 vintage.
RUDOLPH S3000S는 박막의 정확한 물리적 특성을 위해 설계된 고급 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 표면의 광학적 특성을 측정하기 위해 널리 사용되는 분석 기법으로, 필름 두께, 구성 및 굴절률 (refractive index) 의 정확한 결정을 가능하게합니다. 이 강력 한 기구 는 조정 가능 한 파장 "소오스 '의 빛 과" 폴라라이저' 와 "탐지기 '의 정교 한 조합 을 사용 하여" 샘플' 표면 에서 반사 된 빛 의 편광 상태 의 변화 를 측정 한다. RUDOLPH S 3000 S는 사용자가 측정 설정을 최적화하고, 파장을 선택하고, 매개변수를 설정하고, 결과의 정확성을 유지할 수 있도록 해주는 강력하고 사용하기 쉬운 도구입니다. 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 광범위한 파장 범위에서 샘플의 광학 성능을 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다 (영문). 고속, 고정밀 편광 조작은 뛰어난 신뢰성과 반복 성을 제공합니다. 또한, 이 기기는 극성 빔 (polarized beam) 구성을 사용하여 소음을 최소화하고 고해상도 결과를 얻을 수 있습니다. S3000S는 정확하고 신뢰할 수 있는 측정과 더불어, 자동 단계 맵 생성 (automatic phase map generation) 을 비롯한 고급 데이터 분석 기능도 제공합니다. 자동 필름 매개변수 계산; 자동 표면 거칠기 계산; 다양한 재료의 호환성을 결정하기위한 광학 시뮬레이션. 또한 데이터 전송 및 저장을 위한 안전한 암호화 (Secure Encryption for Data Transmission and Storage), 암호 보호 (Password Protection), 액세스 제어 (Access Control) 등의 다양한 기능을 통해 데이터를 안전하게 보호할 수 있습니다. 또한 S 3000 S에는 카메라, 자동 초점 시스템, 조절식 온도실 (Adjustable Temperature Chamber), 고급 데이터 분석을 위한 소프트웨어 패키지 등 다양한 액세서리가 포함되어 있습니다. 이 다재다능 한 타원계 는 금속, 유전체, 반도체 를 포함 하여, 광범위 한 물질 에 적합 하기 때문 에, 여러 가지 응용 분야 에서, 믿을 만하고, 정확 한 결과 를 얻을 수 있습니다. 직관적인 인터페이스, 고급 기능, 강력한 성능을 갖춘 RUDOLPH S3000S (RUDOLPH S3000S) 는 연구 또는 분석 응용프로그램을 위한 효율적이고 안정적인 타원계를 찾는 사람들에게 탁월한 선택입니다.
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