판매용 중고 RUDOLPH S3000A #9389617

RUDOLPH S3000A Ellipsometer는 얇은 필름과 표면을 특성화하는 데 사용되는 고급, 비용 효율적인, 신뢰할 수있는 광학 측정 장비입니다. 이 비파괴 비접촉 장치 (non-destructive, non-contact device) 는 분석되는 서피스를 통과하거나 반사하면서 빛의 편광 상태의 변화를 측정합니다. 필름 두께 및 광학 특성 (예: 굴절률, 농도) 의 측정값과 일치하지 않는 정밀도 및 정확도를 제공합니다. RUDOLPH S 3000 A에는 여러 샘플 영역을 빠르게 측정 할 수있는 선반가공 테이블 디자인이 포함되어 있습니다. 마운트된 시스템은 언더슬룽 암 (underslung arm) 에 장착되어 있어 샘플 데이터를 보다 빠르고 쉽게 수집할 수 있습니다. 전문 소프트웨어 (Specialized software) 를 통해 사용자는 자신의 쇼를 생각할 수 있습니다. 즉, 여러 위치에서 여러 샘플에 대한 측정을 수행하도록 미리 프로그래밍됩니다. 또한 S3000A는 다양한 유형의 폴리머 (polymer) 와 유전체 (dielectric) 로 만들어진 비등방성 박막의 측정을 허용합니다. 그것 은 강력 한 산란 광선 을 갖추고 있으며, 5 "나노미터 '의 얇은" 필름' 을 측정 할 수 있다. 옵션 U 셀 액세서리는 0.5 나노미터 (최대 5 나노미터) 보다 더 정확한 측정에 사용할 수 있습니다. S 3000 A에는 사용자 친화적 인 그래픽 인터페이스 (Graphical Interface) 가 있어 광범위한 교육이 필요 없이 장치를 신속하게 마스터하고 반복 측정을 수행할 수 있습니다. 또한 다중 영역, 다중 솔루션 참조 샘플 분석 (multi-region, multi-solution reference-sample analysis) 을 통해 모든 유형의 규칙적이거나 불규칙한 모양에서 복잡한 박막 및 표면을 불가지론 적으로 측정 할 수 있습니다. 루돌프 S3000A (RUDOLPH S3000A) 의 내구성과 견고성은 혹독한 상황에서도 수년간 서비스 된 것으로 입증되었습니다. 모든 기계는 안정성을 보장하기 위해 공차를 정확하게하기 위해 만들어졌으며, 공구의 신뢰성은 RUDOLPH Technologies (루돌프 기술) 의 최우선 과제 입니다. 그것 은 "스트레스 '와 남용 뿐 아니라 기계적· 열적 극단 에도 견딜 수 있도록 설계 되었다. 마지막으로, RUDOLPH S 3000 A는 대규모 구성 요소에서 나노 스케일 (nanoscale) 수준의 소형 장치에 이르기까지 최첨단 재료의 연구 및 개발에 귀중한 도구로 입증되었습니다. 이는 광학 (optical) 및 자재 (material) 특성 요구 사항을 위한 완벽한 선택이며, 경쟁력 있는 가격은 제조업체, 대학, 연구소 및 기타 실험실 환경에 이상적인 선택입니다.