판매용 중고 RUDOLPH S3000A #9311178

RUDOLPH S3000A Ellipsometer는 박막의 두께, 굴절률, 광학 상수 및 기타 재료 특성을 측정하는 데 사용되는 비 침습적, 광 전자 기기입니다. 주 기능은 샘플의 서피스 레이어에 대한 매우 정확한 설명을 제공하는 것입니다. 타원계 (Ellipsometer) 는 샘플 서피스 레이어에서 반사되면서 편광된 빔을 따라 발생하는 광도의 변화를 측정하여 작동합니다. 반사 된 강도는 다른 각도로 측정되고 반사 된 광원 데이터는 전용 소프트웨어 제품군으로 처리되어 표면 레이어 두께 (surface layer thickness), 굴절률 (refractive index), 광학 상수 (optical constants) 및 기타 재료 특성을 결정합니다. RUDOLPH S 3000 A는 532nm 파장을 사용하며 중단되지 않은 360 ° XYZ 측정 단계와 통합됩니다. 이를 통해 최대 24 개의 릴레이가 있는 매핑 기능을 통해 다양한 샘플 유형의 두께, 균일성, 굴절률을 결정할 수 있습니다. 고해상도 이미징 카메라는 정렬 및 표면 산화물 레이어 이미징을 용이하게합니다. 간단한 사용자 인터페이스를 통해 일상적인 프로세스 제어 및 품질 모니터링을 수행할 수 있습니다. S3000A는 각각 3nm 및 3mrad의 굴절률 및 레이어 두께 정확도를 자랑합니다. 이러한 극도의 정확성은 S 3000 A를 박막 증착 검증, 광학 필터 특성, 반도체 필름 개발 및 기타 다양한 연구 분야를 포함한 많은 응용 분야에 적합한 도구로 만듭니다. 표준 베어본 (barebone) 기능 외에도 RUDOLPH S3000A는 악기의 정렬 및 작동을 최적화하고 세밀하게 조정하는 추가 옵션을 제공합니다. 또한 모든 운영/요구 사항을 지원하는 맞춤형 소프트웨어 솔루션/애플리케이션도 포함되어 있습니다. 요약하면, RUDOLPH S 3000 A Ellipsometer는 샘플의 두 번째 레이어를 측정하기위한 매우 정확하고 다재다능한 기기를 나타냅니다. 즉, 통합된 사용자 인터페이스와 맞춤형 소프트웨어 제품군을 통해 박막 (Thin Film) 자재 측정의 정확성과 반복성이 가장 중요한 모든 연구 환경에서 탁월한 선택이 됩니다.