판매용 중고 RUDOLPH S3000A #9259421
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ID: 9259421
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2011
Thickness measurement system, 12"
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2011 vintage.
RUDOLPH S3000A Ellipsometer는 다양한 산업 및 연구 응용을 위해 설계된 정확하고 신뢰할 수있는 분광기입니다. 박막과 표면의 광학적 특성 (감도 및 정확도) 을 측정합니다. 이 장비는 탁월한 옵틱과 첨단 데이터 획득/분석 기능을 결합하여, 실험실/운영 환경에 매우 유용한 툴입니다. 사용이 간편하고 비용 효율적이며, 전문가와 기술자는 모두 광학을 신속하고 정확하게 조정하고 결과를 평가할 수 있습니다. RUDOLPH S 3000 A는 환경 테스트를위한 몇 가지 옵션을 제공합니다. 다양한 두께의 박막 (thin film) 을 측정하는 능력은 다양한 대기 조건에서 샘플을 테스트하는 데 이상적입니다. 청색 (blue) 파장과 녹색 (Green) 파장의 입사각을 0.1 ° 이상의 해상도로 측정하는 조절 가능한 편광기와 보정기가 있습니다. 이 때문 에, 환경 변동 에 영향 을 받기 쉬운 박막, 표면 특성, 광학 성분 에 대한 연구 를 위한 훌륭 한 선택 이 된다. S3000A에는 간섭계 웨이브미터 (interferometer wavemeter) 시스템도 장착되어 있는데, 이는 박막 또는 기질의 두께를 정확하게 측정합니다. 이를 통해 유사하게 보일 수있는 레이어 간의 차별을 허용하여 재료 분석 (materials analysis) 과 프로세스 제어 (process control) 를 개선합니다. 또한, 멀티 레이디 얼 빔 (multi-radial beam) 구성을 사용하여 제품 스캐닝 시간을 줄여 정확하고 빠른 측정값을 제공하는 직선형 스캔 엔진 (rectilinear scan engine) 이 있습니다. 데이터 처리를 위해 S 3000 A에는 Windows 7 운영 체제를 실행하는 온보드 컴퓨터가 포함되어 있습니다. 이 시스템은 또한 사용이 간편한 분석/해석 소프트웨어 (analysis and interpretation software) 를 제공하므로 테스트 중에 수집한 데이터를 손쉽게 관리하고 분석할 수 있습니다. 사용자는 필요에 따라 SVG, TIFF, Bitmap 등 다양한 이미지 형식으로 결과를 내보내거나 가져올 수 있습니다. 또한, 결과를 시뮬레이션하여 다른 박막 모델을 시연하고, 모델 프로파일로 실험 결과를 오버레이 할 수 있습니다. RUDOLPH S3000A Ellipsometer는 수많은 실험실 및 산업 환경에서 필수적인 도구입니다. 정확한 데이터와 고급 옵틱의 조합으로, 정확하고, 안정적이며, 비용 효율적인 테스트를 위한 탁월한 선택입니다. 다양한 자료에 대한 귀중한 정보를 제공하므로 연구, 프로세스 제어, 품질 보증 (Quality Assurance) 등이 향상됩니다.
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