판매용 중고 RUDOLPH S3000A #9244823

RUDOLPH S3000A는 박막 특성 및 재료 분석을 위해 설계된 고성능 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 필름의 두께 및 굴절률, 소멸 계수, 흡수 계수와 같은 광학 상수를 측정하는 데 사용되는 비파괴 광학 기술입니다. 시료 위에 편광 변조 레이저 빔을 사용하여 검출기 (detector) 에 다시 반사합니다. 필름의 구성과 두께에 따라 반사된 광원의 상대적 강도 (relative intensity) 가 바뀝니다. 빛의 편광을 변경함으로써, 필름의 특성을 결정할 수있다. RUDOLPH S 3000 A 타원계는 필름 특성 및 재료 연구를 위해 405 nm, 633 nm, 785 nm 및 1064 nm을 포함하여 최대 4 개의 파장의 레이저 빛을 사용하는 통합 된 극성계를 포함합니다. "레이저 '빛 은 더 많은" 변조' 광선 과 결합 되어 더 많은 정확도 와 측정 능력 을 갖게 된다. S3000A는 또한 독특한 선형 및 원형 편광기 구성을 포함하며, 이를 통해 TE (가로 전기) 및 TM (가로 자기) 원형 편광을 모두 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 복굴절, 위상 지연 및 굴절 지수 (n) 및 소멸 계수 (k) 와 같은 광학 상수를 포함한 모든 필름 광학 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 S 3000 A 에는 자동 데이터 수집 (Automated Data Collection) 모듈 (Automated Data Collection module) 이 포함되어 있습니다. 이 모듈은 샘플의 동작을 분석하고 이해하고 기존 모델이나 표준과 비교하기 위해 데이터 포인트 수집을 자동화합니다. 또한 Automated Data Collection 시스템은 데이터 수집을 통해 반복 가능하고, 빠르고, 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 RUDOLPH S3000A의 특수 COSE (Computer Operated Spectroscopic Ellipsometer) 설계는 단일 장치 내에서 더 높은 수준의 제어를 가능하게합니다. COSE는 광범위한 입사각 (10도에서 90도) 에서 전체 검출기 스캔을 할 수 있습니다. 이를 통해 여러 샘플 포인트를 매핑하여 정확도를 높일 수 있습니다. 정밀 선형 단계를 통해 RUDOLPH S 3000 A는 또한 광범위한 샘플 크기에 걸쳐 매우 정확한 측정을 만들 수 있습니다. S3000A는 고해상도 광학 부품 (optical component) 과 마이크로칩 (microchip) 에서 화학 및 화장품 코팅 (cosmetic coating) 에 이르기까지 다양한 응용 분야에 사용되는 재료와 박막 (thin film) 의 연구 개발에 이상적입니다. 정확한 분석 및 특성화가 가능하여 안정적이고 재현 가능한 결과를 얻을 수 있습니다.