판매용 중고 RUDOLPH S 300 #9257404

RUDOLPH S 300
제조사
RUDOLPH
모델
S 300
ID: 9257404
Defect inspection systems.
RUDOLPH S 300은 박막 도량형을위한 고급 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 박막의 두께와 광학적 특성을 측정하는 데 사용되는 비파괴 기술입니다. 여기에는 샘플에서 반사광을 측정하는 것이 포함되며, 이로부터 두께 (thickness), 굴절률 (refractive index), 소멸계수 (extinction coefficient) 와 같은 필름 레이어에 대한 정보를 측정할 수 있습니다. 루돌프 S300 (RUDOLPH S300) 은 정확도와 정밀도가 높은 1 ~ 수백 나노미터의 얇은 필름을 측정하도록 설계된 타원계입니다. 광범위한 파장 범위를위한 3 가지 유형의 입사 광원이 장착되어 있습니다: 제논 아크 램프, 텅스텐 할로겐 램프, 슈퍼 컨티누움 레이저. 또한 CCD 카메라와 정확한 단색 장치 (monochromator) 를 연결하여 넓은 스펙트럼 범위에서 빠르고 정확한 측정이 가능합니다. S-300 (S-300) 은 특허를받은 샘플 스테이지를 사용하며, 이는 기계적, 공기 및 진공 구성 요소의 조합을 사용하여 샘플의 정확한 움직임을 사용합니다. 또한 발병 각도를 정확하게 측정 할 수있는 공압 틸트 모터 (pneumatic tilt motor) 와 2 개의 정밀 역학 (mechanics) 이 있습니다. 타원계 (Ellipsometer) 에는 오픈 소스 소프트웨어 패키지가 장착되어 있어 사용자가 특정 요구에 맞게 소프트웨어를 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 RUDOLPH Research Analyzer (RUDOLPH Research Analyzer) 를 통해 사용자는 하드웨어 및 소프트웨어와 상호 작용하고 강력한 데이터 분석을 수행 할 수 있습니다. 광범위한 파장 적용 범위, 정밀 역학 및 오픈 소스 소프트웨어를 고려할 때, RUDOLPH S-300은 신뢰할 수있는 박막 측정이 필요한 연구 개발 조직에 이상적인 선택입니다. 이 소프트웨어는 정확하고, 정밀도가 높은 측정값과, 사용자 정의 기능을 통해 다양한 박막 도량형 (Thin Film Metrology) 애플리케이션을 위한 이상적인 선택이 됩니다.
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