판매용 중고 RUDOLPH FE VII #9397723

RUDOLPH FE VII는 박막 광학 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 고급 타원계입니다. RUDOLPH FEVII와 같은 타원계 (ellipsometer) 는 샘플 표면, 일반적으로 필름 또는 코팅에서 반사되는 빛의 위상과 진폭을 동시에 측정하여 작동합니다. 반사 된 빛의 강도 및 편광을 측정함으로써, FE-VII는 두께, 굴절률, 소멸 계수 등 필름 및 코팅의 광학적 특성을 결정할 수있다. FEVII는 고해상도 이미징 타원계와 디지털 스캔 컨트롤러 (Digital Scan Controller) 를 갖추고 있으며, 최대 50nm 두께의 필름을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 타원계 (ellipsometer) 는 또한 사용자 정의 필름 응용 프로그램에 맞게 구성될 수 있으며, 상태당 최대 4 개의 검출기와 함께 모든 인기있는 편광 상태를 사용하도록 조정 할 수 있습니다. 또한 최대 10 개의 파장을 동시에 선택할 수 있으며, 이는 파장에 의존하는 측정에 유용한 도구입니다. 높은 정확도 외에도 RUDOLPH FE-VII는 1000 회 측정/초의 스캔 속도로 빠른 스캔 속도를 낼 수 있습니다. 따라서 테스트 시간을 단축하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 소음 수준이 0.05% 인 8 비트, 356 x 262 픽셀 냉각 CCD 어레이 검출기와 각도 해상도가 0.2 ° 인 슬래트 미러 액세서리가 포함되어 있습니다. FE VII의 분석 기능은 내장 SUNYSidee ® 소프트웨어에 의해 향상되었으며, 이 소프트웨어는 복잡한 필름에 대한 미련 운영 및 자동 데이터 처리를 제공합니다. 또한 커브 피팅, 파장 필터링 및 TFCalc 실시간 계산과 같은 광범위한 데이터 분석을 허용합니다. 전반적으로, RUDOLPH FE VII는 다양한 박막 광학 특성을 측정 할 수있는 매우 정확하고 신뢰할 수있는 타원계로, 정밀도 및 속도가 필요한 응용 분야에 적합합니다.