판매용 중고 RUDOLPH FE VII #9083744

루돌프 FE VII (RUDOLPH FE VII) 는 박막 및 기판 두께를 측정하기위한 강력한 도구를 제공하는 고급 고정밀도 및 측정 반복 성 타원계입니다. 이 타원계는 0.2 nm의 정확도로 1 나노 미터 (1 nanometer) 에서 1 미크론 (1 micron) 의 물질의 필름 두께를 측정 할 수 있습니다. 광학 흡수 (optical absorption) 와 필름 두께 (transmission) 를 다양한 파장에 걸쳐 측정하도록 설계되었습니다. 이것은 박막의 광학 특성을 분석하는 데 이상적입니다. RUDOLPH FEVII Ellipsometer는 최첨단 기술을 사용하여 정확한 박막 측정 결과를 제공하는 다기능 모델입니다. "필름 '두께 를 정확 하게 측정 하는 것 과 더불어 광학" 필름' 의 성능 을 측정 할 수 있다. 이 기구 는 광학 "필름 ', 광학 부품 및 광학" 시스템' 의 다른 구성 요소 들 을 조사 하는 믿을 만한 도구 로서, 연구 개발 "응용프로그램 '에 사용 된다. 이 장치에는 직관적인 Windows® XP 호환 소프트웨어가 함께 제공됩니다. 이 소프트웨어는 사용자가 필름 데이터를 쉽게 캡처, 저장하고, 데이터를 분석하여 두께를 계산하고, 광학 흡수를 계산할 수 있습니다. FE-VII Ellipsometer는 광학 필름 두께, 광학 흡수, 전송되는 빛의 양, 편광, 반사율 및 산란을 포함한 여러 매개 변수를 측정 할 수 있습니다. 처리 된 실험 결과 는 광학 장치 설계, 재료 과학, 반도체 장치 연구 등, 여러 가지 응용 분야 에서 사용 될 수 있다. FEVII는 전력 소비량이 적고 자체 PC 전원 공급 장치가 포함되어 있어 휴대성이 편리한 장치입니다. 온도 보상 기능 (Temperation compensation feature) 을 사용하면 판독값의 정확도에 영향을 주지 않고 단계 해상도 및 스캔 속도를 조정할 수 있습니다. 이 매우 정밀한 모델은 쉽게 적재 할 수 있도록 이동식 웨이퍼 척 (wafer chuck) 으로 설계되었으며, 연구 및 개발 응용 분야에 더 도움이 됩니다. FE VII Ellipsometer는 정확한 박막 측정을위한 신뢰성이 높지만 저렴한 도구입니다. 또한 정확성, 반복성, 다용도 (versitility) 를 결합하면 많은 광학 분석 애플리케이션을 선택할 수 있습니다. 또한 사용이 간편한 소프트웨어는 데이터 스토리지, 처리, 분석에 대한 간단한 솔루션을 제공합니다. 이 모델은 고급 (advanced) 기능을 통해 박막 (thin film) 과 광학 부품 (optical component) 을 측정하기 위해 정확하고 효율적인 기기가 필요한 사용자에게 탁월한 가치를 제공합니다.