판매용 중고 RUDOLPH FE IV #9271610

RUDOLPH FE IV는 RUDOLPH Technologies, Inc.에서 설계 한 고급 타원계입니다. 박막과 소립자 (small particle) 와 같은 물질의 광학적 특성을 측정하기 위해 고안된 강력한 분석 도구다. 이 기기는 고속 측정을위한 독특한 대용량 샘플 챔버 (CRA) 와 컴퓨터 제어 드라이브 장비 (Custom-Designed Computer-Controlled Drive Equips) 를 포함하여 다양한 정교한 기능을 갖추고 있습니다. 기기는 파장 범위가 350 ~ 1650 nm 인 광학 시스템, 샘플 스테이지 및 고속 컴퓨터 제어 드라이브 장치로 구성됩니다. "제논 '광원 에서 나온 광선 의 단일 광선 은 광학" 머신' 에 통합 되어 입사 파동 과 편광 반사 파동 으로 변화 되는 "샘플 '단계 로 향하게 된다. 그런 다음 CCD 카메라에 의해 반사 된 파도가 검출되고, 편광 각도가 측정된다. 탐지 도구 (detection tool) 는 탐지된 정보를 밀러 매트릭스 (Mueller matrix) 의 요소를 계산하는 데 사용되는 강도 및 위상 맵으로 변환합니다. 이 행렬은 타원계 모델에 따라 2x2 또는 4x4 형식으로 생성되며, 샘플의 광학 매개변수 (optical parameters) 를 계산하는 데 사용됩니다. 그런 다음, RUDOLPH EllipsWerks 소프트웨어와 같은 특수 소프트웨어 패키지를 사용하여 분석 및 추가 조작을 위해 획득 한 데이터를 볼 수 있습니다. RUDOLPH FE-IV 타원계를 사용하여 사용자는 총 반사율, 소멸 계수, 광학 흡수, 굴절률, 코팅 두께 및 광학 이방성 (optical anisotropy) 과 같은 재료에 대한 광산 산란의 효과를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 큰 표본 챔버를 사용하면 필름 지형과 스트레스를 빠르게 측정 할 수 있습니다. 게다가, 이 기구는 금속 점 (metal dot) 과 같은 투명하지 않은 샘플의 특성을 측정하는 데 사용될 수 있으며, 다양한 산업의 다양한 연구 응용 분야에 적합합니다. 게다가, 이 기구 는 단순 한 작업 과 최소 의 사용자 의 참여 를 특징 으로, "트레이닝 '을 최소화 하면서 여러 가지" 샘플' 들 을 신속 하고 정확 하게 측정 할 수 있다. 높은 정확도, 사용 편의성, 다양한 기능을 통해 FE IV 타원계는 연구 및 제조 환경 모두에서 강력한 툴이 됩니다.