판매용 중고 RUDOLPH FE IV #9097166

RUDOLPH FE IV는 얇은 필름 및 표면의 광학 특성을 측정하도록 설계된 고급 타원계입니다. 렌즈, 창, 코팅과 같은 광학 재료의 특성화에 사용됩니다. 단색 광원, 샘플 마운트, 타원계 헤드, 컨트롤러 유닛, 개인용 컴퓨터로 구성됩니다. 광원은 단일 파장 (wavelength of light) 을 사용하는 단색기 (monochromator) 로, 샘플을 통해 전달되는 빛의 강도를 제어하고 측정 할 수 있습니다. 광원은 타원계 (ellipsometer) 헤드에 연결되어 있으며, 이는 샘플을 통과할 때 광선 (light beam) 의 편광의 변화를 측정합니다. 컨트롤러 장치는 샘플 마운트 (sample mount) 및 빔 경로 (beam path) 를 조정하여 샘플의 광학 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 타원계 (ellipsometer) 의 편광 조건은 반사 (reflected) 또는 투과 (transmitted) 빛의 각도를 감지하는 역할을 하는 컨트롤러에 설정됩니다. 그러면 빔의 회전 각도 (rotation angle) 와 타원 (ellipticity) 이 샘플의 광학 상수를 계산하는 것과 비교됩니다. 개인용 컴퓨터는 컨트롤러 장치에서 수신한 데이터를 저장, 표시하는 데 사용됩니다. 또한 RUDOLPH FE-IV (RUDOLPH FE-IV) 를 사용하면 데이터를 다양한 형식으로 저장하여 추가 분석에 사용할 수 있습니다. 결론적으로, FE IV는 얇은 필름과 표면의 안정적이고 정확한 광학 측정을 제공하는 최첨단 타원계입니다. 그것 은 물질 의 광학 상수 를 결정 할 필요 가 있는, 과학· 산업 응용 에 이상적 이다.