판매용 중고 RUDOLPH FE IV D #9375034

RUDOLPH FE IV D는 RUDOLPH Research Analytical에서 다양한 생산 및 연구 응용 프로그램을 위해 설계 한 타원계입니다. RUDOLPH FE IVD는 다중 파장으로, 표본의 전체 표면에서 비접촉, 비파괴 방식으로 전체 Jones 매트릭스 데이터를 수집 할 수있는 타원계를 매핑합니다. 이 장비는 UV-Vis-NIR 분광법 응용 프로그램에 적합하게 구성되며, 사용자는 광학 상수, 필름 두께, 굴절률 및 기타 필름 특성을 빠르고 쉽게 측정 할 수 있습니다. FE-IVD 는 스캐닝 각도 (scanning angle) 및 광 액세서리 (optical accessory) 첨부를 제어하는 고유한 샘플 스캐닝 구성 요소를 활용한 회전식 보정기 (rotating compensator) 기술을 기반으로 합니다. 이 컨트롤을 사용하면 다른 샘플 유형을 신속하게 분석할 수 있으며, 데이터를 수집할 때 가장 정확도를 유지할 수 있습니다. 광학 카트에는 여러 가지 교환 가능한 폴라리세이터 (Polarisator) 와 보정기 (Compensator) 가 장착되어 있으며, 이는 분석 가능한 측정 능력과 입사각 범위를 크게 확장합니다. 고정밀 디지털 인코더 (High Precision Digital Encoder) 는 이동되는 각도 거리를 모니터링하고 시스템이 픽셀 간에 데이터를 신속하게 전송할 수 있도록 합니다. FE IV D는 일상적인 생산 제어 및 조사 연구를 위해 설계되었습니다. 이 장치의 통합 소프트웨어 (Integrated Software) 는 직관적이고 사용하기 쉽기 때문에 다양한 애플리케이션에 대한 실험을 신속하게 설정할 수 있습니다. 또한 RUDOLPH FE-IVD에는 데이터 분석을 단순화하는 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 장착되어 있습니다. 이 비주얼 인터페이스 (Visual Interface) 를 사용하면 매개변수 및 데이터 뷰를 간단하게 편집할 수 있으므로 데이터를 신속하게 진단하고 관련 결과에 집중할 수 있습니다. 또한, FE IVD는 종합적인 사전 측정 라이브러리를 통합하여 쉽게 비교 및 진단할 수 있습니다. RUDOLPH FE IV D는 반복 가능하고 신뢰할 수있는 성능으로 인해 생산 라인에서 프로세스 제어를 설정하기위한 훌륭한 선택입니다. 광 어셈블리는 강력하며 최대 12 개의 알파 포인트 자동 스캐닝이 특징입니다. 또한, RUDOLPH FE IVD는 다양한 환경 감지 및 제어를 지원하여 반복 가능한 측정 조건을 달성합니다. FE-IVD는 다용도 기계로, 다양한 기판에 사용하기에 적합합니다. 탁월한 성능, 다면적 설계, 단순하면서도 강력한 소프트웨어 인터페이스를 갖춘 FE IV D는 생산 환경과 연구 응용프로그램에 이상적인 타원계입니다. RUDOLPH FE-IVD의 설계를 통해 사용자는 비접촉, 비파괴 방식으로 다양한 샘플 유형의 광학 상수, 필름 두께 및 굴절률을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다.