판매용 중고 RUDOLPH FE IIID #9139658

RUDOLPH FE IIID는 박막의 물리적 두께 및 광학 특성을 측정하는 데 사용되는 타원계입니다. 이것은 표본에 편광된 빛을 비추고, 그 결과 발생하는 강도와 편광의 변화를 측정함으로써 작용합니다. 결과 데이터는 박막 재료의 두께 및 광학 상수 (굴절 지수 및 흡수 계수) 를 결정하는 데 사용될 수있다. RUDOLPH FE-IIID는 샘플 표면을 정확하게 측정하고 분석하기 위해 350 ~ 2800 나노 미터 범위의 7 개의 매우 민감한 광학 필터 밴드가있는 CCD 카메라를 사용합니다. CCD 카메라에 의해 측정 된 각도 정보와 가시 헬륨-네온 레이저 (helium-neon laser) 가 제공하는 강도 데이터를 결합하여 FE III D는 최대 0.5 밀리미터 떨어진 여러 지점에서 측정을 얻을 수 있습니다. FE-IIID 는 내부 조사 (internal research) 에 유용한 도구일 뿐 아니라, 품질 관리 목적으로 신뢰할 수 있는 데이터를 얻을 수 있습니다. 예를 들어, 반도체 제조업체는 종종 제품 제어 목적으로 박막 (Thin film) 의 정확한 두께를 측정해야합니다. FE III/D에 의해 생성 된 데이터는 박막 침전물 및 관련 광학 상수 측정과 관련하여 신뢰성이 높다. 극도의 정확성과 내구성으로 인해, 루돌프 FE III D (RUDOLPH FE III D) 는 박막 재료를 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수있는 측정이 필요한 실험실과 생산 시설에 대한 빈번한 선택이되었습니다. 고급 데이터 획득 및 분석 시스템으로 인해, RUDOLPH FE III/D는 연구원들에게 필요한 정확한 결과를 제공 할 수 있습니다. FE IIID 는 유연하고, 사용하기 쉽고, 신뢰할 수 있는 시스템으로, 박막 샘플의 정밀도를 측정합니다. 높은 정확성과 반복성 (repeatability) 은 박막 재료와 관련된 포괄적인 정보를 도출하는 완벽한 도구입니다. 이 정보는 품질 관리 및 연구 목적에 귀중합니다.