판매용 중고 RUDOLPH FE III #9187409

RUDOLPH FE III는 매우 정밀하고 차가운 반사계를 가진 컴팩트하고 모든 기능을 갖춘 Ellipsometer입니다. 박막 및 표면 특성화의 연구 및 개발을 위해 특별히 설계되었습니다. 이 장비는 단순하고 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스를 사용하여 모든 측정 매개변수 (measurement parameter) 를 구성하고 다양한 샘플을 처리합니다. RUDOLPH FEIII Ellipsometer는 조명 소스, 광학 시스템, 사용자 인터페이스 및 분석 소프트웨어로 구성됩니다. 조명원은 연속적인 파장을 제공하는 슬릿 (slit) 을 가진 거의 일관되지 않은 광원입니다. 광학 장치에는 흰색 또는 단색 광원, 편광 프리즘, 보정기, 측정 요소 및 광학 수신기가 포함됩니다. 광학 수신기는 현미경 목표 후면의 CCD 카메라로 구성됩니다. 광학 기계는 박막 (thin film) 과 표면 (surfaces) 의 특별하고 평범한 광학 상수를 측정하도록 설계되었습니다. 사용자 인터페이스는 간단하고 직관적입니다. 또한 샘플 각도 및 기타 매개변수를 정확하게 조정할 수 있습니다. 데이터의 추가 분석 및 그래프를 위해 데이터를 저장할 수 있습니다. FE-III Ellipsometer에 포함 된 소프트웨어는 굴절률, 소멸 계수, 광학 상수, 재료 두께 등과 같은 물리적 매개변수의 계산을 제공합니다. 또한 분극 의존성을 포착하기 위해 다중 측정 점 분석, 스펙트럼 측정, 분산 측정, 각도 변화 등의 고급 기능을 제공합니다. RUDOLPH FE-III Ellipsometer의 주요 이점은 빠르고 정확한 측정 단일 빔 구성 및 소프트웨어 사용성입니다. 이 도구는 산업 및 연구 중심의 응용을위한 표면 및 박막 특성에 이상적입니다. 즉, 사용자는 광 특성 (optical properties) 의 정확한 측정을 수행하고, 샘플의 특성을 정확하게 파악해야 하는 모든 도구를 사용할 수 있습니다.