판매용 중고 RUDOLPH EL III #9131119

RUDOLPH EL III는 광학 박막 측정을위한 예술 타원계 상태입니다. 고급 반도체 장치, 광학 디스플레이 (optical display) 및 기타 광전자 부품 (optoelectronic component) 의 생산에서 발견되는 것과 같은 광학 박막 계층의 측정 및 분석에 사용됩니다. 타원 측정법 (Ellipsometry) 은 정밀 광원과 사진 탐지기 (photo detector) 를 사용하여 얇은 필름과 상호 작용한 후 빛의 편광의 변화를 측정합니다. 엘 III (EL III) 는 고급 편광 반사계 (polarized reflectometer) 의 고급 측정 기능과 타원계의 강력한 제어 및 분석 소프트웨어를 결합하여 연구자와 엔지니어들에게 비교할 수없는 정밀도와 정확도를 제공합니다. 루돌프 엘 III (RUDOLPH EL III) 는 고급 자동 측정 시스템을 특징으로하며, 이는 박막의 최적의 샘플링을 위해 소스 라이트와 편광 각도의 파장을 정확하게 조정합니다. 이 강력한 시스템은 또한 계측기 (instrument drift) 를 효과적으로 제거하고 다양한 샘플에서 정확성을 보장하는 교정 모듈을 제공합니다. 엘 III (EL III) 는 온도 및 습도 조절을 포함한 다양한 환경 검사 기능을 제공하여 독립형 측정에 적합합니다. 루돌프 엘 III (RUDOLPH EL III) 는 놀라운 측정 기능 외에도 다양한 강력한 분석 옵션을 제공합니다. 최신 Windows 호환 소프트웨어는 수집 된 데이터에 다양한 정교한 알고리즘을 적용하여 샘플 데이터를 해석하여 광학 상수 (optical constants), 굴절률 (refractive indices), 흡수 계수 (absorptions coefficients), 필름 두께 (film thickness) 등 다양한 유용한 매개변수를 생성하는 데 사용됩니다. 또한 데이터를 텍스트 또는 그래픽 형식으로 직접 출력하여 ESC (Ellipsometry Standards Committee) 표준과 비교할 수 있습니다. 마지막으로, EL III은 사용자를 염두에 두고 설계되어 박막 측정이 가능한 한 쉽게 이루어집니다. 직관적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 는 RUDOLPH EL III의 설치 및 작동을 바람직하게 만들고, 유용한 마법사 및 자습서를 선택하여 새로운 사용자조차도 기기의 작동을 신속하게 배울 수 있습니다. EL III에는 반자동 샘플 스테이지 (semi-automatic sample stage) 및 참조 샘플 홀더 (reference sample holder) 와 같은 다양한 유용한 액세서리가 포함되어 있어 광학 박막 측정 및 분석이 더욱 쉽고 성공적입니다.