판매용 중고 PHILLIPS SD-3400 #293625374

PHILLIPS SD-3400은 박막의 매우 정확하고 안정적인 광학 특성을 위해 설계된 타원계입니다. 이 첨단 기술 장치는 박막 두께 (Thin Film Thickness) 와 박막 굴절률 (Refractive Indice) 을 측정 할 수 있습니다. 이는 박막의 국소화 광학 특성을 특성화하기위한 광학 기술 인 타원 측정 (Ellipsometry measurement) 을 통해 수행됩니다. 박막 (Thin Film) 샘플에서 반사된 빛의 편광 상태 (Polarization State) 의 변화를 측정하여 입사 평면에서 회전합니다. 타원법 측정은 ~ 10nm ~ ~ ~ 20 미크론의 박막 굴절률 및 두께에 대한 정보를 제공합니다. SD-3400 타원계는 샘플 측정에서 높은 정확도로 알려져 있으며, 샘플 준비 또는 샘플과의 접촉이 필요하지 않습니다. 이를 통해 사용자는 파괴적인 방법이 필요 없이 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 박막 (thin film) 뿐만 아니라 뛰어난 재현성 (> 0.1nm) 을 가진 박막/기판 인터페이스의 측정으로 인해 높은 감도를 갖습니다. PHILLIPS SD-3400 타원계는 빠르고 정확하며 반복 가능한 측정을 위해 설계되었습니다. 자동 시스템 (Automated Systems) 을 통해 디바이스는 스테이션 간에 빠르게 이동하고, 사용자 인터페이스로 결과를 신속하게 얻을 수 있으며, 사용자가 간편하고 직관적인 작업을 수행할 수 있습니다. 이 장치는 또한 다양한 극성계 (polarimeter) 를 특징으로하며, 이를 통해 사용자는 입사각 (incident angle) 을 여러 개 측정할 수 있습니다. 따라서 사용자 용량이 증가하여 보다 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 SD-3400 은 통합 소프트웨어/하드웨어 기술을 통해 데이터 결과의 분석/프레젠테이션을 향상시켜 드립니다. 또한 신뢰성이 높은 로드 잠금 시스템 (load lock system) 이 제공되어 측정 중 오염으로부터 샘플을 보호합니다. 이 기능은 광전자 (optoelectronics), 태양전지 (solar cell) 와 같은 박막 산업에서 널리 채택됩니다. 이 첨단 기술 타원계 (ellipsometer) 는 내장형 및 자동화된 시스템을 통해 박막 특성화에서 가장 높은 정확성과 신뢰성을 제공하도록 설계되었습니다. 필립스 SD-3400 (PHILLIPS SD-3400) 은 시장에서 가장 신뢰할 수있는 타원계 중 하나이며, 박막 산업에 가장 적합합니다.