판매용 중고 J.A. WOOLLAM W-VASE 32 #293740578

J.A. WOOLLAM W-VASE 32는 다양한 재료에서 광학 특성의 정확한 박막 특성과 측정을 위해 설계된 최첨단 타원계입니다. 이 고성능 기기는 고급 분광 타원법 (Spectroscopic Ellipsometry) 기술을 사용하여 연구 개발, 반도체 제조, 표면 과학 등의 다양한 응용 분야에 정확하고 안정적인 데이터를 제공합니다. W-VASE 32는 회전 보정기 (rotating compensator) 및 이중 회전 분석기 (dual rotating analyzer) 구성을 갖춘 완전 자동화 시스템을 통해 빠른 측정과 높은 처리량을 제공합니다. 타원계는 자외선을 근적외선 스펙트럼 범위에 걸친 광대역 광원 (broadband light source) 을 갖추고 있으며, 광범위한 광학 특성 분석을 위해 다양한 파장에 걸친 측정을 가능하게한다. 이 타원계는 필름 두께, 굴절률, 소멸 계수, 필름 구성과 같은 주요 매개변수를 결정하는 데 탁월한 정확성과 반복성을 제공합니다. 샘플 표면에서 반사 된 빛의 편광 상태 변화를 분석함으로써 J.A. WOOLLAM W-VASE 32는 나노 미터 (sub-nanometer) 정밀도로 상세한 광학 특성을 추출하여 박막 및 다층 구조를 특성화하기위한 귀중한 도구입니다. W-VASE 32는 정교한 모델링 알고리즘과 피팅 루틴을 사용하여 타원체 데이터를 분석하고 높은 해상도의 광학 상수를 추출합니다. 이 기기는 투명, 불투명, 패턴 기판 등 다양한 샘플 유형을 처리 할 수 있으며, 광범위한 재료 및 박막 응용 프로그램 (Thin Film Application) 을 위해 다재다능합니다. 박막 분석 외에도 J.A. WOOLLAM W-VASE 32는 표면 거칠기, 이방성 및 복굴절과 같은 다른 샘플 특성을 측정 할 수 있으며, 비 파괴적인 방식으로 물질 특성의 포괄적 인 특성을 제공합니다. 타원계 (Ellipsometer) 는 연구 및 품질 관리 목적으로 사용될 수 있으며, 다양한 산업 및 응용 분야를위한 박막 (Thin film) 의 광학 행동에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. W-VASE 32 의 사용자 친화적 인터페이스는 손쉽게 작동하고 데이터를 분석할 수 있도록 하며, 측정 자료 획득, 결과 보기, 보고서 생성 등을 위한 직관적인 소프트웨어를 제공합니다. 타원계 (ellipsometer) 는 고감도 및 안정성을 위해 설계되었으며, 사용 기간 동안 안정적이고 정확한 측정이 보장됩니다. 전반적으로 J.A. WOOLLAM W-VASE 32 타원계는 고급 박막 특성화를위한 정교한 기기로, 광범위한 재료 및 응용 분야에 대한 정확한 광학 특성 측정을 제공합니다. 첨단 기술, 자동화된 기능, 고성능 기능을 갖춘 W-VASE 32는 업계 최고 수준의 정확성과 효율성을 지닌 박막 (Thin Film) 의 광학 특성을 분석, 최적화하려는 연구자, 과학자, 엔지니어들을 위한 다목적 도구입니다.