판매용 중고 J.A. WOOLLAM VASE #9224810
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판매
ID: 9224810
Ellipsometer
Spectral range: Up to 193 to 3200 nm
Reflection
Transmission ellipsometry
Flexible measurement capability:
Variable wavelength
Angle of incidence.
J.A. WOOLLAM VASE는 재료의 광학 특성을 측정하는 데 사용되는 타원계입니다. 이 장치는 사용자에게 필름 두께 (film thickness), 굴절률 (refractive index) 및 필름의 소멸 계수 (extinction coefficient) 와 같은 정확한 광학 정보와 기본 재료의 광학 특성을 제공합니다. VASE는 평평한 광학 표면에서 박막 특성을 결정하는 데 이상적입니다. 실리콘 웨이퍼에서 금속, 유리, 플라스틱 및 페인트에 이르기까지 다양한 응용 분야에 사용할 수 있습니다. 울람 J.A. WOOLLAM VASE는 산업 등급 분광형 타원계, 공조 광학, 레이저 다이오드 광원, 전자 제품, 컴퓨터 화 된 사용자 인터페이스 및 로터리 스테이지로 구성됩니다. 이 장치는 다양한 탐지 모드를 사용하여 다양한 타원법 (ellipsometry) 및 반사 측정 (reflectometry measures) 을 수행 할 수 있습니다. 여기에는 단일 파장, 다중 파장, 다중 각도 및 온도 의존 측정이 포함됩니다. "레이저 다이오드 '광원 은 측정 할" 샘플' 을 비추는 데 사용 되며, 연계 광학 에 의하여 편광 된 "빔스플리터 '에 유도 된다. 빔슬리터는 빛을 2 개의 직교 편광 성분으로 나눈 다음 2 개의 개별 검출기 암으로 보냅니다. 검출기는 반사 된 빛의 편광을 측정하고 회전 단계 (rotational stage) 는 측정을 수행하기 위해 샘플을 증가 (increments) 로 회전시키는 데 사용됩니다. 2 개의 검출기가 수집 한 데이터는 재료의 복잡한 반사율 (reflectance) 과 투과율 (transmittance) 을 계산하는 데 사용된다. 이 데이터는 컴퓨터 화 된 사용자 인터페이스 (Computerized User Interface) 에 의해 처리되어 샘플 재료의 굴절, 두께 및 광학 상수의 색인을 결정합니다. 결과는 수치 형식 (Numerical Format) 과 그래픽 형식 (Graphical Format) 으로 인터페이스에 표시되고 추가 분석을 위한 진단 정보를 제공합니다. 화병 (VASE) 은 다양한 측정 모드와 정확도를 가진 재료의 광학 분석을위한 훌륭한 장치입니다. 이 장치는 박막 특성, 증착, 부식 연구와 같은 응용 분야에 적합합니다. 또한 표면 거칠기, 접착, 광산란 측정과 같은 다른 응용 분야에도 사용할 수 있습니다.
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