판매용 중고 J.A. WOOLLAM VASE #293624629

J.A. WOOLLAM VASE는 타원 측정법의 업계 리더 인 Woollam Company에서 설계 및 제조했습니다. 특허를 받은 VASE는 다양한 기판에서 박막의 두께 (thickness) 와 광학 상수 (optical constants) 를 측정하도록 설계된 정밀 광학 도구입니다. 입사각 범위는 4도에서 70도, 정확도는 0.2도입니다. WOOLLAM VASE는 측정에서 최고의 정확도를 제공합니다. 독특한 디자인에는 공기 베어링 (air bearing) 을 갖춘 이동식 하부 장치 (removable lower unit) 와 하나의 설정만으로 여러 개의 박막 (thin film) 을 측정 할 수있는 필름 샘플 마운트 (film sample mount) 가 포함됩니다. 광학 헤드 (Optical Head) 에는 공기 반사 오류를 줄이고 입사와 산란광 (Spattered Light) 사이의 광학 경로의 변화를 최소화하여 정확도를 높일 수 있도록 특별히 설계된 광학 봉투가 있습니다. 장비에 포함된 소프트웨어는 직관적인 기능을 제공하여 '전체 기능 분석' 과 '신속한 데이터 수집' 을 가능하게 합니다. VASE는 박막 두께 및 광학 특성 측정에서 비교할 수없는 정확도를 제공합니다. 첨단 소프트웨어 (Advanced Software) 를 통해 종합적인 분석 및 신속한 데이터 수집이 가능하므로 연구원들이 박막 샘플의 적합성 테스트를 신속하게 수행 할 수 있습니다. 이 시스템은 0.2도 정확도로 조정 가능한 4도에서 70도 사이의 저진공 입사각을 사용합니다. 이렇게 하면 박막을 정밀하게 측정할 수 있습니다. 향상된 광학 봉투는 또한 공기 반사 오류를 줄이고 광학 경로 편차를 최소화하여 더 정확한 결과를 산출합니다. 이 장치는 J.A.에 내장 된 정교한 감지 시스템에 의해 추가됩니다. WOOLLAM 꽃병. 여기에는 Peltier 온도 컨트롤러, Autophobic Flatten Compensation 소프트웨어 및 자동 변조 보상 기능이 포함됩니다. 이러한 시스템을 사용하면 다른 광학 상수 (optical constant) 와 필름 (film) 의 박막 (micro-roughness) 을 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. 이는 정확하고 정확한 측정 및 향상된 박막 특성 (특히 기계의 고급 소프트웨어와 함께 사용될 때) 을 보장합니다. VASE는 다재다능하고 고급 타원계로, 박막 측정에서 전례없는 정확성을 제공합니다. 특히 재료 과학, 태양 광 공학, 전자 공학, 반도체 시장 의 연구가 들 과 과학자 들 에게 유익 하며, 파장 에 의존 하는 광학 물질 결정 에 사용 된다. "깨어라!" 이 혁신적인 도구는 박막 (thin film) 의 두께 및 다양한 기판의 광학 상수 (optical constants) 를 측정하는 데 사용될 수 있으며, 정확성과 반복성은 단순히 타의 추종을 불허합니다.