판매용 중고 J.A. WOOLLAM M-2000X #9231739

J.A. WOOLLAM M-2000X는 재료의 광학 특성을 측정하는 데 사용되는 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 재료의 두께, 굴절률, 소멸 계수 및 광학 상수를 결정하는 데 사용되는 비파괴 기술입니다. 이 타원계 (Ellipsometer) 는 광학적 특성을 결정하기 위해 재료 샘플을 반사하면서 단색 광선 (Monochromatic Light Beam) 의 편광 변화를 측정합니다. M-2000X는 업계 최고의 광, 기계 및 전자 부품 조합을 갖추고 있습니다. 광학 모듈에는 초고성능 정확도 Wollaston 프리즘이 장착 된 고성능 InGaAs 분광계가 포함되어 있습니다. 이 프리즘은 광원 각도에서 높은 수치 조리개까지 편광 된 빛을 측정 할 수 있습니다. 빛은 샘플과 상호 작용하고 컴퓨터 제어 모터 포지셔닝 시스템 (computer-controlled motorized positioning system) 을 통해 분광계로 향합니다. J.A. WOOLLAM M-2000X는 진동 및 먼지가없는 환경에서 수행되므로 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다. M-2000X의 주요 기능에는 자외선에서 적외선 영역까지의 샘플의 광학 상수 측정, 박막 광학 상수, 필름 두께 측정, 변형 그라디언트, 층별 두께 및 유전율 상수 측정. J.A. WOOLLAM M-2000X는 또한 자동 측정 처리량, 직관적인 Windows 인터페이스, 강력한 데이터 분석 및 플로팅 기능, 광범위한 샘플 보유자와의 호환성 등 다양한 사용자 친화적 기능을 제공합니다. 또한, 이 도구는 사용자 제어, 유연성, 정확성이 필수적인 생산 라인 (production line) 및 연구 프로세스에 쉽게 통합되도록 설계되었습니다. M-2000X (M-2000X) 는 다양한 광학 연구 및 측정 요구사항에 적용할 수 있는 탁월한 성능을 갖춘 혁신적이고 신뢰할 수 있는 타원계입니다. '정확성 (accuracy)' 과 '다용도 (versativility)' 의 탁월한 조합으로 다양한 애플리케이션에 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다.