판매용 중고 J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200

J.A. WOOLLAM M-2000 타원계는 분극 광선을 사용하여 분석되는 샘플 재료의 두께 변화를 측정하는 장치입니다. 측정은 결과 반사 된 빛의 회전을 측정하기 전에 먼저 특정 주파수의 빛을 샘플 재료 서피스 (sample material surface) 에 비추는 방식으로 수행됩니다. 이 샘플은 UHV 챔버 (UHV chamber) 에 둘러싸인 샘플 디스크 (sample disk) 위에 배치되어 진공 환경에서 측정을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 회전 플랫폼에 장착 된 샘플 (sample) 디스크는 각기 다른 발병 각도와 편광 (polarization) 이 다른 측정에 사용될 수 있도록 해준다. M-2000의 광원은 빔 길이가 2.0cm, 빔 강도가 10 nonWatts/cm2인 147.5nm ArF * 레이저입니다. 양극화를 모니터링하고 재료의 복굴절을 평가하는 데 사용되는 CCD 검출기 (CCD Detector) 가 장착되어 있습니다. 또한 "레이저 '선 과" 레이저' 간섭계 를 가지고 있는데, 이것 은 표본 에 비하여 "빔 '의 편광 의 변화량 을 측정 하는 데 사용 된다. 또한 이 시스템에는 측정된 데이터를 처리하고 실시간 결과를 제공하는 내부 프로세서가 있습니다. 비교를 위해 최대 5000 개의 커브를 저장할 수도 있습니다. 또한, 이 시스템은 장기적인 데이터 수집 및 데이터 분석 전략 (data analysis strategy) 을 통해 사용자가 시간이 지남에 따라 필름의 진화에 대한 개요를 제공합니다. J.A. Wooellam J.A. WOOLLAM M-2000은 샘플 재료의 두께 변화를 측정하기위한 효과적인 도구입니다. 이는 편광의 변화를 다른 입사각도로 측정하는 능력 때문입니다. 또한, 내부 프로세서는 데이터 분석 (data analysis) 및 커브 저장 (store curve) 기능을 지원하므로 연구 및 품질 제어에 유용한 도구입니다. 또한, 복굴절 및 진공 환경 (vacuum environment) 을 측정하는 능력은 광학 분야와 같은 특수 응용 분야에 이상적인 도구가됩니다.