판매용 중고 J.A. WOOLLAM M-2000 #293631836

J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsometer는 박막 특성 및 프로세스 제어에 사용되는 광학 기기입니다. M-2000에는 표면의 충격 전에 편광 된 가시 스펙트럼 (파장 632.8 nm) 에서 빛을 방출하는 헬륨-네온 레이저 (helium-neon laser) 가 장착되어 있습니다. 그 다음, 광로 에 있는 광학 원소 들 에 의하여 빛 의 편광 이 변경 되는데, 광학 원소 들 은 그 광경 에 이미 있는 "박막 '과 상호 작용 을 한다. 빛의 편광 상태에서 이러한 변화를 탐지하는 것은 샘플을 전후에 배치 한 2 개의 고감도, 대형 동적 범위 검출기 (large-dynamic range detector) 에 의해 촉진된다. J.A. WOOLLAM M-2000의 독특하고 특허받은 회전 분석기 (rotating analyzer) 기술은 샘플 복굴절로 인한 바람직하지 않은 신호 구성 요소를 제거하여 수백 나노미터 미만의 필름 측정에서 전례없는 정확성과 반복 성을 제공합니다. 또한 기울어진 사건 광선 (tilted incident beam) 을 사용하면 설계에 의한 오류가 크게 줄어 고출력 환경에서 사용자에게 중요한 이점을 제공합니다. M-2000 의 시간적 해상도 역시 놀랍습니다. 최대 시스템 응답은 1 밀리초 (1 밀리초) 이며, 전체 샘플 표면에서 빠르게 변화하는 필름을 초고속 모니터링할 수 있습니다. 측정 된 신호는 포함 된 소프트웨어 패키지 (J.A.W. ThinFilmLab) 를 사용하여 박막 구성 요소로 해제 될 수 있습니다. 여기에는 모델 데이터베이스와 최근에 출시 된 글로벌 최적화 루틴 (예: Levenberg-Marquardt 알고리즘) 에 대한 인터페이스가 포함되어 있습니다. 이를 통해 여러 레이어의 동시 피팅과 놀라운 정확도로 임의의 박막 (thin film) 의 두께 및 광학 상수를 결정할 수 있습니다. 또한, 추가 제어가 필요한 사용자의 경우, 원하는 모델에 맞게 소프트웨어 패키지를 사용자 정의할 수 있습니다. 휴대용 응용 프로그램의 경우 J.A. WOOLLAM M-2000은 전동 포지셔닝이 가능한 통합 XY 스테이지와 함께 사용할 수 있으며, 이는 큰 샘플 크기에 걸쳐 자동 측정이 가능합니다. 또한 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 빠르고 최적의 데이터 수집을 보장해 드립니다. 컴팩트한 디자인, 저전력 소모 (low power consumption), 가장 복잡한 샘플조차도 처리 할 수있는 능력으로 인해 박막 연구와 관련된 모든 실험실에는 귀중한 도구가 됩니다.