판매용 중고 J.A. WOOLLAM IR-VASE #293811090

J.A. WOOLLAM IR-VASE 타원계는 적외선 스펙트럼 범위에서 정확하고 정확한 분광 타원법 측정을 위해 설계된 최첨단 기기입니다. 이 고급 도구는 재료 과학, 표면 과학, 박막 분석에 광범위한 응용 프로그램을 제공합니다. IR-VASE 타원계에는 1.7 ~ 25 미크론의 적외선 영역에서 측정 할 수있는 고성능 적외선 분광계가 장착되어 있습니다. J.A.의 주요 특징 중 하나입니다. WOOLLAM IR-VASE 타원계는 박막, 코팅, 반도체 재료, 광학 부품 등 다양한 샘플 유형에 대한 비파괴 및 비 접촉 측정을 제공하는 기능입니다. 이 기기는 타원법 (ellipsometry) 의 원리를 사용하여 정밀도와 정확도가 높은 샘플 레이어의 복잡한 굴절률 (refractive index) 및 두께를 측정합니다. IR-VASE 타원계는 안정적이고 재현 가능한 측정을 보장하는 고품질 광학 시스템을 갖추고 있습니다. 이 기구 는 편광 된 적외선 광원 을 이용 하는데, 이 광원 은 특정 한 각도 로 "샘플 '에 입사 한다. 그 다음 에 반사 된 빛 은 매우 민감 한 탐지기 에 의해 검출 되고, 반사 된 빛 의 "타원계 '" 파라미터' 는 "샘플 '의 광학적 특성 에 대한 정보 를 추출 하도록 측정 된다. J.A. WOOLLAM IR-VASE 타원계는 전송, 반사 및 탈 분극 측정을 포함한 다양한 측정 모드를 제공하여 광범위한 샘플의 포괄적 인 특성을 제공합니다. 이 기기는 박막 두께, 표면 거칠기, 광학 상수, 재료 구성 (고감도 및 해상도) 을 측정 할 수 있습니다. IR-VASE 타원계의 소프트웨어 인터페이스는 사용자 친화적이며 직관적이며, 기기 (instrument) 및 실시간 데이터 분석을 쉽게 제어할 수 있습니다. 이 기기는 자동 측정, 데이터 획득, 데이터 분석 (data analysis) 기능을 통해 처리량이 많은 측정과 효율적인 데이터 처리를 지원합니다. J.A. WOOLLAM IR-VASE 타원계는 연구 및 산업의 광범위한 응용 분야에 적합한 다목적 도구입니다. 이 기기는 반도체, 광학, 나노 기술, 생체 재료 등 다양한 분야의 재료를 특성화하는 데 사용될 수 있습니다. IR-VASE 타원계는 재료 특성 및 품질 제어 목적으로 학계, 연구 기관 및 산업 실험실에서 널리 사용됩니다. 결론적으로 J.A. WOOLLAM IR-VASE 타원계는 적외선 스펙트럼 범위에서 정확하고 정확한 분광 타원법 측정을 제공하는 최첨단 기기입니다. 고급 기능, 고성능, 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 IR-VASE 타원계 (ellipsometer) 는 재료 과학 및 박막 분석 분야에서 일하는 연구원 및 과학자들에게 필수적인 도구입니다.