판매용 중고 J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II #293815174

J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II는 적외선 스펙트럼 범위에서 정확하고 정확한 박막 특성을 위해 설계된 적외선 분광학 기능을 갖춘 정교한 타원계입니다. 타원법 (Ellipsometry) 은 필름-기판 시스템을 통한 반사 또는 전송시 편광 상태의 변화를 분석하여 박막 (thin film) 의 두께, 굴절률 및 기타 광학적 특성을 결정하는 데 일반적으로 사용되는 광학 기술입니다. IR-VASE Mark II는 연구원과 엔지니어가 반도체, 유전체, 폴리머 및 생물학적 샘플을 포함한 광범위한 물질에 대한 비파괴적 분석을 수행 할 수 있습니다. J.A.의 주요 특징 중 하나입니다. WOOLLAM IR-VASE Mark II는 전자기 스펙트럼의 적외선 영역에서 광학 특성을 측정하는 능력이며, 일반적으로 약 2.5 "m '에서 25" m (4000 cm-1 ~ 400 cm-1) 범위입니다. 이 확장 된 스펙트럼 범위는 고유 한 IR 흡수 기능을 가진 재료의 특성을 가능하게하며, 이는 화학 조성, 분자 구조 및 결합 구성에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. IR-VASE Mark II는 타원계 및 적외선 분광학 기술을 결합하여 박막 분석에 대한 포괄적 인 접근 방식을 제공하며, 이는 재료 과학, 물리, 화학 및 공학의 연구 응용 분야에 특히 유익합니다. 이 기기는 회전식 보정기 기반 타원법 (ellipsometric) 구성을 사용하며, 여기서 빛의 편광 상태를 변조 및 분석하여 복잡한 굴절률 (refractive index), 레이어 두께 (layer thickness) 및 서피스 거칠기 (surface roughness) 와 같은 광학 매개변수를 추출합니다. J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II에는 고급 광학, 검출기 및 소프트웨어 알고리즘이 장착되어 있어 측정 민감도, 정확도 및 반복성이 높습니다. 다양한 샘플 유형, 형상 (geometry) 및 온도를 수용할 수 있으므로 다양한 실험 설정 및 측정 조건을 다양하게 사용할 수 있습니다. IR-VASE Mark II는 반사 및 투과 타원법, 적외선 분광학 타원계를 포함한 여러 측정 모드를 제공합니다. 반사 측정 (Reflection measurations) 은 특정 입사각 (incidence of incidence) 에서 샘플 서피스에 편광된 광선의 빔을 지시하고 반사광을 검출함으로써 수행된다. 전송 측정에는 샘플을 통해 빛을 통과시키고 전송 된 빛을 감지하는 것이 포함됩니다. 적외선 분광형 타원체계는 이러한 기술을 IR 광원 및 검출기와 결합하여 샘플의 분자 진동 및 흡수에 대한 자세한 분석을 가능하게한다. 이 기기는 손쉽게 설치, 데이터 획득, 타원법 및 분광법 측정을 분석할 수 있는 사용자 친화적 인 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어는 광학 상수 (optical constant), 레이어 구조 (layer structure) 및 샘플 특성 (sample properties) 을 기반으로 이론적 모델에 실험 데이터를 맞추기 위한 맞춤형 모델링 도구를 제공합니다. 이러한 모델링 기능을 통해 연구자들은 박막 (Thin Film) 의 구성, 두께, 광학 동작 (Optical Behavior) 에 대한 귀중한 정보를 추출하고 박막 증가, 증착 또는 에칭 (Etching) 과 같은 프로세스 중 실시간 변화를 모니터링할 수 있습니다. 요약하면, J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II 타원계는 적외선 스펙트럼 범위의 박막을 특성화하기위한 강력한 도구이며, 다양한 과학 기술 분야의 연구 및 개발을위한 고급 측정 기능, 정확한 데이터 분석 및 다목적 실험 옵션을 제공합니다. 타원계 (ellipsometric) 와 분광학 (spectroscopic) 의 조합은 연구자들에게 박막 재료의 광학적 특성, 분자 구조, 화학 성분에 대한 포괄적 인 이해를 제공하며, 재료 과학 및 공학의 새로운 발견과 발전을위한 길을 열어줍니다.