판매용 중고 J.A. WOOLLAM H-VASE #9182681

J.A. WOOLLAM H-VASE (Horizontal Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer) 는 박막 및 표면 원격 감지의 정량적 특성화를 위해 설계된 타원계입니다. 접촉 프로브 (Contact Probe) 나 다른 물리적 측정을 사용하지 않고 샘플 서피스의 광학 특성을 측정 할 수 있습니다. H-VASE는 상업용, 산업 및 과학 응용 분야를 위해 고속, 정확성 및 신뢰성의 독특한 조합을 제공합니다. 기기의 자동 측정 기능은 반복 가능한 필름 측정을 제공하며, 정확한 두께 결정을위한 큰 동적 범위 (dynamic range) 를 제공합니다. 측정 범위를 최적화하고 관심 있는 박막 (Thin-film) 특성을 포착하기 위해 구성 가능한 측정 방식이 있습니다. J.A. WOOLLAM H-VASE의 수직, 수평 가변 입사각 디자인은 정확한 박막 특성을 보장합니다. 입사각 (variable angle of incidence) 은 입사각 (angle of incidence) 때문에 잠재적인 효과를 설명할 필요가 없습니다. 가변 입사각 (variable angle of incidence) 을 사용하면 굴절률 및 소멸 계수가 다른 재료를 측정 할 수 있습니다. 타원도 및 반사 측정은 흰색 광원 (white light source) 을 사용하여 만들어지며, 이는 입사된 광원의 전체 스펙트럼을 정확하게 측정합니다. 이를 통해 파장 분산을 포함한 반사율, 흡수 및 박막 광학 상수의 특성화가 가능합니다. 레이저는 부피가 큰 편광기와 분석기의 필요성을 제거합니다. 분광 타원계로 고급 광학 시뮬레이션을 수행 할 수도 있습니다. 내장 광학 시뮬레이션 소프트웨어를 통해 사용자는 박막 (Thin-film) 의 광학 특성을 정확하게 시뮬레이션하고 분석할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 프로세스 매개변수를 반복적으로 최적화하여 박막 (Thin-film) 특성화에 가장 적합한 광학 매개변수를 얻을 수 있습니다. H-VASE는 단일 또는 다중 측정 데크와 함께 사용할 수 있습니다. 단일 데크 구성을 통해 최대 3 개의 필름 재료 레이어를 단일 측정으로 측정 할 수 있습니다. 여러 측정 데크는 최대 7 층의 필름 재료를 수용 할 수 있습니다. J.A. WOOLLAM H-VASE는 또한 가변 각도 샘플 배치를 특징으로하며, 단일 기판의 다양한 필름을 측정 할 수 있습니다. 가변 각도 샘플 배치 (variable angle sample placement) 는 입사각 효과를 설명하기 위해 제어 샘플을 사용할 필요가 없습니다. 또한 가변 각도 배치 (variable angle placement) 를 사용하면 두께가 다른 필름에 대해 여러 측정 단계가 필요하지 않습니다. 요약하자면, H-VASE는 정확하고 반복 가능한 박막 특성을 제공하기 위해 설계된 분광형 타원계입니다. 이 기기는 다양한 입사률 측정 각도, 고급 광학 시뮬레이션, 최대 7 층의 필름 재료 측정 기능 등을 제공합니다. 이것은 J.A.를 만듭니다. WOOLLAM H-VASE는 상업, 산업 및 과학 영화 특성 응용 분야에 이상적인 도구입니다.