판매용 중고 GARTNER L116C #293795213

가트너 타원계 (GARTNER Ellipsometer) 는 박막과 표면의 특성을 분석하기 위해 설계된 최첨단 광학 기기입니다. 이 고급 타원계 (Ellipsometer) 는 정밀도 및 정확도가 높은 박막의 두께, 구성 및 광학 상수를 결정하는 데 사용되는 기술 인 타원 측정법 (ellipsometry) 의 원리를 사용합니다. GARTNER Ellipsometer는 과학 기기의 주요 제조업체 인 GARTNER가 개발했으며, 반도체 기술, 나노 기술, 재료 과학 등 다양한 분야의 연구, 개발, 품질 관리 응용 분야에 널리 사용됩니다. 타원계 (Ellipsometer) 의 중심에는 편광 광을 사용하여 조사 중인 샘플을 조사하는 정교한 광학 설정이 있습니다. 이 기기는 일반적으로 광원, 편광기, 보정기, 샘플 스테이지 및 검출기로 구성되며, 모두 컴팩트하고 사용자 친화적 인 구성으로 통합됩니다. 광원은 편광된 광선 (polarized light) 의 빔을 생성하며, 이는 특정 입사각 (incidence of incidence) 에서 샘플 서피스로 향합니다. 편광 된 빛은 샘플과 상호 작용하고, 다중 반사 (multiple reflection) 를 겪으며, 샘플의 광학적 특성으로 인해 편광 상태가 변경되어 나타납니다. GARTNER 타원계 (GARTNER Ellipsometer) 는 샘플과 상호 작용한 후 빛의 편광 상태의 변화를 측정하여 박막 또는 표면의 광학적 특성에 대한 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 이러한 측정은 일반적으로 다양한 파장에 걸쳐 수행되어 샘플의 광학 특성 (optical properties) 에 대한 스펙트럼 반응을 얻습니다. 이 도구를 사용하면 박막의 굴절률 (refractive index), 소멸 계수 (extinction coefficient), 두께 (thickness) 등 다양한 매개변수를 분석하여 재료의 특성과 행동에 대한 중요한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 타원계 (Ellipsometer) 의 주요 장점 중 하나는 박막 두께와 광학 상수를 측정하는 데 높은 민감도와 정확도입니다. 이 기기는 필름 두께의 서브 나노 미터 (sub-nanometer) 변화와 광학 특성의 미묘한 변형을 감지 할 수 있으므로 박막 (thin film) 을 정밀하게 특성화하기위한 귀중한 도구입니다. 또한 GARTNER Ellipsometer (GARTNER Ellipsometer) 는 빠르고 파괴적이지 않은 측정을 제공하여 샘플을 변경하거나 손상시키지 않고 상세한 분석을 수행할 수 있습니다. 타원계 (Ellipsometer) 에는 고급 데이터 획득 및 분석 소프트웨어가 장착되어 있어 측정 데이터를 손쉽게 처리, 해석할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 결과 스펙트럼 피팅, 모델 기반 분석, 시각화 (visualization) 를위한 도구를 제공하여 연구원들이 박막 특성에 대한 귀중한 통찰력을 추출 할 수 있습니다. 게다가, GARTNER Ellipsometer (GARTNER Ellipsometer) 는 특정 실험 요구 사항을 충족하기 위해 추가 액세서리 및 구성으로 사용자 정의할 수 있으며, 다양한 어플리케이션을 위한 다용도 도구입니다. 결론적으로, Ellipsometer는 얇은 필름과 표면의 정확하고 신뢰할 수있는 특성화를위한 최첨단 기기를 나타냅니다. 고급 광학 디자인, 고감도, 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 GARTNER Ellipsometer는 박막 분석이 필수적인 분야에서 일하는 연구원, 과학자, 엔지니어에게 유용한 도구입니다. 물질의 광학적 특성에 대한 자세한 정보를 제공함으로써, 타원계 (Ellipsometer) 는 다양한 과학 분야에서 연구 및 개발을 발전시키는 데 중요한 역할을합니다.