판매용 중고 GAERTNER L117 C #9011501

GAERTNER L117 C는 타원계로, 시료의 필름 두께, 굴절률, 광학 이방성 (optical anisotropy) 등 표면 특성의 비파괴적이고 정밀한 측정을 가능하게한다. 타원계는 0 ° 에서 85 ° 의 가변 입사각 (AOI) 을 갖추고 있으며, 다양한 각도로 측정 할 수 있습니다. L117 C는 가장 일반적으로 MVAE (Monochromatic Variable Angle Ellipsometry) 기술로 알려진 Brewster's Angle의 변형을 사용하여 샘플에서 반사 된 빛의 편광 상태를 정확하게 측정하여 최대 5 미크론까지 깊이 프로파일링합니다. GAERTNER L117 C는 사전 설정된 AOI에서 샘플에 중점을 둔 632.8 나노 미터의 파장을 가진 헬륨 네온 (HeNe) 레이저를 사용합니다. 이어서, 편광 된 빛은 진폭 및 위상 (phase) 을 포함한 다양한 성분으로 반사되어 반사 된 빛의 관련 편광 상태를 결정한다. 이 편광 상태는 L117 C의 정밀 광학 및 PC 기반 소프트웨어를 사용하여 측정 및 분석되며, 샘플 특성을 나노 미터 범위의 해상도로 해결합니다. 액체 및 고체 인터페이스 특성 평가에 유용한 굴절률 (refractive index) 및 광학 이방성 (optical anisotropy) 의 변화를 감지하는 GAERTNER L117 C를 통해 샘플 재료의 변화를 감지 할 수 있습니다. L117 C는 또한 매우 얇은 필름의 두께를 효과적으로 측정하고, 감도가 0.2nm 인 층 재료의 표면 방향 차이를 정량화 할 수있다. GAERTNER L117 C는 샘플 홀더 플랫폼과 통합되어 x축 (X-Axis) 실습 테이블을 통해 샘플을 쉽게 마운트하고 이동할 수 있습니다. 홀더는 최대 12mm의 샘플 두께로 최대 200x100mm의 샘플을 지원할 수 있습니다. 샘플 홀더에는 빠른 샘플 로드 및 언로드가 가능한 빠른 릴리즈 (quick-release) 메커니즘이 장착되어 있습니다. L117 C는 파괴적이지 않고, 매우 민감한 타원계로, 다양한 샘플 특성에 대한 정확한 분석을 제공합니다. 직관적인 PC 기반 소프트웨어와 결합 된 광범위한 AOI 측정을 가진 우월성 광학은 유기 및 무기 박막, 액체/고체 인터페이스 및 기타 나노 구조의 평가를위한 이상적인 도구입니다.