판매용 중고 GAERTNER L116D #9176490

GAERTNER L116D는 박막, 기판 및 기타 표면의 광학적 특성을 측정하는 데 사용되는 최첨단 타원계입니다. 타원계 (ellipsometer) 는 샘플 서피스에서 반사된 후 빛의 편광 상태의 변화를 측정합니다. L116D는 박막의 두께, 굴절률, 소멸 계수 및 기타 레이어 특성을 측정 할 수 있습니다. GAERTNER L116D는 특성화를위한 샘플을 정확하게 배치하기 위해 1 ½ m 단계의 동력 무대를 가지고 있습니다. 조명을 위해 633 nm의 단일 주파수, 레이저 다이오드 소스를 사용합니다. 또한 빛을 제대로 분극하는 회전 가능한 복굴절 보정기가 있습니다. 검출기 (detector) 는 반사 된 빛의 변화를 감지하고 각도의 함수로서 편광 정도를 측정하는 데 사용된다. L116D는 또한 컴퓨터 제어 편광기 (computer-controlled polarizer) 를 사용하여 샘플에서 반사한 후 빛의 강도를 측정하고, 카메라가 이미지 평면에서 직접 편광 상태를 측정합니다. GAERTNER L116D는 비접촉, 비파괴 이미징 기술을 사용하여 박막 및 기판 특성을 측정합니다. 여기에는 타원법 측정, PI (polarimetric imaging) 및 RI (reflectometry imaging) 가 포함됩니다. 단일 빔 타원계는 200nm에서 12äm 사이의 레이어 측정에 최적화되어 있습니다. PI 및 RI 시스템은 600 nm 깊이로 측정 할 수 있습니다. 모든 측정값은 L116D 임베디드 컴퓨터 (Embedded Computer) 를 통해 수집되며, 이를 통해 쉽게 분석하고 다른 플랫폼과 통합할 수 있습니다. GAERTNER L116D는 다층 필름, 금속 필름, 유전체 필름, 반도체 등 다양한 광학 박막 및 기판을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 민감도 (Excensitivity) 와 반복성 (Repeatability) 이 뛰어난 신뢰성 있는 장비로, 연구 및 생산 응용 프로그램 모두에 사용할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 복굴절 (birefringence) 및 지체 (retardance) 와 같은 특성을 확인하기 위해 발병 각도가 다른 여러 개의 빔을 요구하는 복잡한 구조를 측정 할 수 있습니다. 전반적으로, L116D는 박막 및 기타 표면의 광학적 특성을 빠르고 정확하게 측정 할 수있는 완전하고 자동화 된 타원계 (ellipsometer) 단위입니다. 많은 다양한 응용 프로그램에 적합한 안정적이고 민감한 기계입니다.