판매용 중고 GAERTNER L116A #293815576

GAERTNER L116A는 박막 도량형 및 표면 특성화 분야에 사용되는 정교한 타원계입니다. 타원계는 표면에서 반사된 빛의 편광 상태 변화를 측정하여 굴절률 (refractive index), 두께 (thickness), 필름 구성 (film composition) 과 같은 광학적 특성을 결정하는 비파괴 광학 기구입니다. L116A 타원계는 높은 정확도, 빠른 측정 속도, 사용자 친화적 인 인터페이스로 유명하며, 연구원과 업계 전문가들 모두에게 인기있는 선택입니다. 이 기기는 이중 회전 보정기 설계를 사용하여 빛의 편광 상태 (polarization state of light) 의 변화를 측정하여 정확하고 안정적인 데이터 입수를 허용합니다. GAERTNER L116A 타원계의 주요 기능 중 하나는 다재다능한 측정 기능입니다. 이 기기는 박막 (thin film), 다층 구조 (multilayer structure), 패턴 서피스 (patterned surfaces) 등 다양한 샘플 유형을 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 조정 가능한 스팟 크기 (spot size) 와 파장 범위 (wavelength range) 를 통해 타원계는 다양한 크기와 광학 특성 샘플을 수용할 수 있으며, 다양한 범위의 응용을위한 유연한 도구입니다. L116A 타원계 (ellipsometer) 에는 측정 결과를 쉽게 해석하고 시각화할 수 있는 고급 데이터 분석 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어는 실시간 데이터 처리, 맞춤형 측정 스크립트, 자동화된 데이터 피팅 (Data Fitting) 알고리즘을 제공하여 정확하고 효율적인 데이터 분석을 제공합니다. 사용자는 필름 두께 (film thickness), 굴절률 (refractive index), 소멸 계수 (extinction coefficient) 와 같은 광학 속성의 그래픽 표현을 생성할 수 있으므로 데이터의 트렌드와 이상을 쉽게 식별할 수 있습니다. 또한 GAERTNER L116A 타원계 (Ellipsometer) 는 측정 기능 외에도 다양한 액세서리와 옵션을 제공하여 성능과 다양성을 향상시킵니다. 특정 샘플 유형 (sample type) 과 응용프로그램 (application) 에 대한 측정 설정을 사용자 정의하기 위해 여러 개의 광원과 검출기를 장착할 수 있다. 마이크로스팟 옵틱 (Microspot Optic), 현장 모니터링 도구 (In Situ Monitoring Tools) 및 환경 제어 모듈 (Environmental Control Module) 과 같은 옵션 액세서리는 고급 연구 개발 프로젝트에 대한 타원계의 기능을 더욱 확장합니다. L116A 타원계 (ellipsometer) 는 견고한 구성과 직관적인 사용자 인터페이스를 갖춘 안정성과 사용 편의성에 중점을 두고 설계되었습니다. 이 기기는 엄격한 실험실 환경과 장기적인 사용을 견뎌내기 위해 만들어졌으며, 시간이 지남에 따라 일관되고 정확한 측정이 가능합니다. 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 측정 매개변수, 보정 루틴 (calibration routine), 데이터 획득 (data acquisition) 을 빠르고 효율적으로 설정할 수 있으므로 초보자와 숙련된 사용자에게 이상적인 툴이 됩니다. 전반적으로 GAERTNER L116A 타원계는 박막 도량형 및 표면 특성화 응용을위한 강력하고 다양한 도구입니다. 높은 정확도, 빠른 측정 속도, 고급 데이터 분석 기능을 갖춘 타원계 (Ellipsometer) 는 연구원과 업계 전문가들에게 재료의 광학 특성을 연구하고 박막 프로세스를 최적화하는 데 유용한 도구를 제공합니다.