판매용 중고 GAERTNER L116 #9004443

GAERTNER L116은 광범위한 애플리케이션을 위해 설계된 최첨단 자동 Spectroscopic Ellipsometer입니다. L116은 두께가 5 nm ~ 4 um 인 다양한 재료의 필름 두께, 굴절률 및 광학 상수에 대한 정확하고 반복 가능한 측정을 제공합니다. 장비는 높은 정확도와 마운트, 타원계 기기, 컨트롤러, 샘플 회전 목마, PC 인터페이스 및 소프트웨어로 구성됩니다. 시스템은 0.2 nm의 해상도로 300 - 1100 nm의 파장 범위에서 작동합니다. 이 단위는 분광형 타원계 및 각도 분광법의 동시 측정을 허용합니다. 측정 범위는 0-90 ° 이며 정확도는 0.01 ° 입니다. 타원계는 고유한 기능을 통해 고성능 상태를 유지합니다. 내부 매크로보드를 사용하면 특수 프로시저를 구현할 수 있으며, 각 샘플의 자동 정렬 (auto-alignment) 을 통해 안정된 성능, 반복 가능하고 일관된 결과를 얻을 수 있습니다. 반사율 (reflectance) 과 변속기 탐지기 (transmission detector) 는 알 수없는 모든 필름 특성을 정확하고 완벽하게 측정 할 수있는 기초를 마련합니다. 이 기계는 응용 프로그램 요구사항 (application requirements) 에 따라 회전 목마 (carousel) 로 많은 샘플을 측정 할 수 있습니다. GAERTNER L116은 사용자 친화적입니다. 인터페이스에는 기동식 그래픽 디스플레이, 단순 명령 언어 및 원격 제어 Microdeck 도구가 포함됩니다. 또한 장치 제어 설정, 실시간 필름 두께, 자동 샘플 회전 목마 및 다중 측정을위한 LCD 디스플레이를 제공합니다. 또한, 자산은 타원방향 데이터를 처리하기 위해 PC에 연결할 수도 있습니다. L116은 박막의 화학적 특성 (chemical properties) 과 물리적 특성 (physical properties) 과 같은 많은 연구 응용 분야에 적합합니다. 예를 들어, 다양한 기판에 증착 된 수많은 박막의 광학 상수, 필름 두께, 굴절 지수 및 소멸 계수의 측정을 측정 할 수 있습니다. 또한, GAERTNER L116은 반도체 장치의 품질 제어를 위해 적용 될 수 있습니다. 이 모델은 반도체 및 마이크로 일렉트로닉 (microelectronics) 에서 코팅 및 의료 관련 분야에 이르는 응용 분야에 성공적으로 사용됩니다.