판매용 중고 GAERTNER L116 #75352

GAERTNER L116은 최첨단 분광계 타원계입니다. 박막, 표면 종, 다층 코팅의 특성을 측정하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 정밀 광학 (precision optics) 과 이중 편광 빔스플리터 (dual polarizing beamsplitter) 기술을 사용하여 재료 샘플의 광학 특성을 측정합니다. 여기에는 굴절 지수, 소멸 계수, 필름 두께, 서피스 거칠기, 재료 광학 상수 등의 매개변수가 포함됩니다. L116에는 과학적 연구, 제품 개발, 품질 관리 등의 다양한 구성 요소가 장착되어 있습니다. 이 시스템은 샘플의 광학 특성을 측정하는 데 사용되는 HeNe 레이저를 기반으로합니다. "레이저 '는 연속" 모오드' 나 이산 "모드 '에서 여러 파장 을 생성 할 수 있어서 더 정확 한 측정 을 할 수 있다. 레이저는 광다이오드 (photodiode) 와 CCD (charge-coupled device) 카메라로 구성된 검출기 (detector) 어셈블리에 연결되어 있으며, 둘 다 샘플에 의해 반사되는 빛의 강도를 양방향으로 측정하는 데 사용됩니다. 검출기 (Detector) 어셈블리에는 2 개의 편광기가 포함되어 있는데, 이를 통해 샘플에 의해 반사되는 빛의 편광과 반사광의 편광의 방향 (orientation) 을 모두 측정 할 수 있습니다. GAERTNER L116 에는 컴퓨터 기반 자동화 및 제어 소프트웨어와 데이터 획득 및 샘플 포지셔닝을 위한 다양한 액세서리가 포함되어 있습니다 (영문). 여기에는 고정밀 변환 단계 및 시스템과 호환되는 샘플 홀더가 포함됩니다. 또한 다양한 측정 시퀀스를 프로그래밍하여 4 인치, 6 인치 및 8 인치 샘플을 자동으로 테스트 할 수 있습니다. L116은 박막 및 코팅의 신뢰할 수있는 특성화의 표준으로 간주됩니다. 연구자와 엔지니어에게 표본의 광학적 특성을 나노미터 해상도 (nanometer resolutions) 까지 정확하게 측정 할 수있는 능력을 제공합니다. 또한 다양한 표면에 대한 동시 분석이 가능하므로 재료 (materials) 의 특성을 보다 포괄적으로 이해할 수 있습니다. GAERTNER L116 의 정확성과 반복성은 제조 공정 (Manufacturing Process), 전기 특성 (Electrical Characterization), 광학 설계 검증 (Validation of Optical Design) 의 품질 제어에 대한 신뢰성을 높여 다양한 산업에 귀중한 도구입니다.