판매용 중고 GAERTNER L116 B #9022059

GAERTNER L116 B는 회전 편광기 분석기 체계를 기반으로하는 타원계입니다. 선형 댐퍼 (linear damper) 가 장착 된 고정밀 회전 단계 (high precision rotary stage) 를 사용하여 샘플에 입사하는 편광 광선을 회전시키고, 두 번째 검출기는 회전 각도 또는 편광 변화 정도를 측정합니다. 이 "모델 '의 장점 은 높은 정확도 로 거대 한" 스펙트럼' 범위 에서 측정 하는 것 이 가능 하며, 산업 에서 가장 인기 있는 "모델 '중 하나 라는 점 이다. L116 B (Rotating Analyzer) 기술을 사용하여 샘플과 입사 된 편광 광선 (polarized beam of light) 의 상호 작용의 결과로 빛의 편광 변화 정도를 측정합니다. 편광된 빔의 회전 각도는 입사각 (angle of incidence) 의 함수로 기록되며, 타원계 (ellipsometer) 의 값으로 정량화된다. 이 각도는 분극된 각도의 입사각 (incivism angle) 과 샘플의 검출된 각도 (detected angle) 의 차이를 측정하여 계산합니다. 각도 값 이외에도 GAERTNER L116 B의 매개 변수도 측정했습니다. 이 값은 입사된 빔을 구성하는 두 분극 상태의 전기 장 (electrical field) 과 p-컴포넌트 (p-components) 사이의 차이이며, 샘플 표면의 특성을 보다 정확하게 결정하기 위해 G 값과 함께 사용됩니다. L116 B를 사용한 측정은 두께 10 나노미터까지 매우 얇은 필름을 측정 할 수 있으며, 알루미늄 시트 처리, 코팅, 광학 필터, 반도체, 유기 박막 및 폴리머와 같은 많은 응용 분야에 적합합니다. 이 기기는 다양한 광학, 소스, 검출기를 특징으로하며, 모든 샘플 재료에서 가장 높은 정확도를 보장하도록 설계되었습니다. GAERTNER L116 B는 빠르고 컴팩트한 유닛으로, 편리한 사용자 인터페이스를 통해 빠르고 간편한 작업을 수행할 수 있습니다. 다양한 각도에 걸쳐 정확한 데이터를 제공합니다. 이는 코팅 두께 측정 (coating thickness measurements) 및 서피스 특성 (surface characterization) 과 같은 응용 프로그램에 중요합니다. L116 B는 반도체, 광학 요소 및 박막 측정과 관련된 다른 응용 프로그램의 제조에 사용되어왔다. 회전 편광기 및 분석기 체계를 사용하여 GAERTNER L116 B 사용자는 정밀도와 정확도가 높은 다양한 광학 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 전반적으로, L116 B는 광범위한 어플리케이션에서 정확하고 안정적인 측정을 위한 탁월한 선택입니다. 컴팩트한 크기와 편리한 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 빠르고 안정적으로 결과를 제공하는 편리한 기기를 제공합니다.