판매용 중고 GAERTNER L115B #9272576

GAERTNER L115B Ellipsometer는 박막 및 광학 재료의 정확한 특성을 위해 설계된 고급 광학 측정 시스템입니다. 타원계는 두께, 굴절 지수, 흡수, 서피스 및 인터페이스 거칠기와 같은 특성을 측정하는 데 사용됩니다. L115B는 분극 광원, 단색기 및 2 개의 시야각 검출기를 사용하는 분광 타원계입니다. 광원과 탐지기 (detector) 에 의해 생성된 수직 (vertical) 과 수평 (horizontal) 의 두 각도는 반사광의 타원 및 위상 이동을 측정하여 샘플의 광학적 특성에 대한 풍부한 정보를 제공합니다. 이 장치는 다양한 샘플 홀더 (sample holder), 자동 샘플 고온 단계 (automated sample high temperature stage), 컴퓨터 제어 전동 초점, 자동 호 램프 등 다양한 옵션 액세서리를 지원합니다. GAERTNER L115B는 25 ° ~ 85 ° 의 각도에서 광학 특성을 측정 할 수 있습니다. 이렇게 하면 매우 얇은 "필름 '의 정확 한 특징 과 층" 필름' 과 다층 "필름 '을 포함 한 더 복잡 한 재료 들 이 있을 수 있다. 또한 고해상도 (High Resolution) 와 넓은 동적 범위 (Dynamic Range) 를 제공하여 광학 특성을 정확하게 특성화할 수 있습니다. L115B 를 실행하는 소프트웨어는 다양한 분석 및 보고 기능을 갖추고 있습니다. GAERTNER L115B (GAERTNER L115B) 는 다양한 필름 및 광 재료 정보를 수집하고, 자동 필름 특성을 수행하기 위한 강력한 도구입니다. 디바이스 생산량 평가, 문제 해결, 자재 심층 조사 등을 위한 최적의 솔루션입니다 (영문). 이 장치는 명확히 레이블이 지정된 단추와 매개변수 (parameters) 와 온보드 비디오 디스플레이 (on-board video display) 를 통해 안정성이 높고 사용하기 쉽도록 설계되었습니다. 전반적으로 L115B 타원계 (Ellipsometer) 는 박막 및 기타 광학 재료에 대한 자세한 정보를 제공하도록 설계된 정확한 광학 측정 시스템입니다. 다양한 각도, 고해상도, 사용자 정의 가능한 소프트웨어를 통해 박막 특성화 (Thin Film Characterization), 자동 필름 평가 (Automated Film Evaluation) 와 같은 어플리케이션에 이상적인 툴이 됩니다.