판매용 중고 GAERTNER L115 #9176770

GAERTNER L115 (GAERTNER L115) 는 GAE 인터내셔널 (GAE International) 이 개발 한 고급 타원계로, 광범위한 응용 프로그램을위한 세계 최고의 타원계 제조업체 중 하나입니다. L115는 가시 파장 및 근적외선 파장에서 박막의 광학적 특성을 포괄적으로 측정합니다. 이 최첨단 타원계에는 최대 4 개의 독립 샘플 어셈블리를 보유 할 수있는 대형 샘플 홀더가 장착되어 있으며, 높은 정밀도 단일 파장, 이중 파장 및 다중 파장 RSE (Rapid-Scan Ellipsometry) 측정을 포함한 다양한 측정 모드를 제공합니다. 또한 필름 두께 및 광학 상수를 특성화하는 데 일반적으로 사용되는 단일/다중 입사각, 다중 파장 타원법 데이터를 얻을 수 있습니다. 이 시스템의 고급 광학 설계는 흡수 필름 (sumboring) 또는 비 흡수 필름 (non-absorbing film) 과 같은 선형 필름 및 비선형 필름의 정확한 특성을 허용합니다. 통합 소프트웨어 플랫폼은 사용자에게 필름 두께 측정, 광학 상수 추정, 비선형 필름의 광학 특성, 스펙트럼 반사율 분석 (Spectral Reflectance Analysis) 등 다양한 분석 도구를 제공합니다. GAERTNER L115는 최소 연산자 간섭으로 정확하고 반복 가능한 타원체 데이터를 제공하도록 설계되었습니다. 필름 두께 측정, 회전 대칭 구조 및 광학 상수가 적은 박막 (thin film) 을위한 반복 된 파장 길이 스캔이 특징입니다. 또한 물리적 두께 및 픽셀 레벨 박막 샘플의 총 광학 두께 (optical thickness) 를 측정하기위한 통합 4D 발열량 장치가 포함되어 있습니다. 측정 계획 (Measuration Planning), 스캔 스케줄링 (Scan Scheduling) 과 같은 통합 자동화 도구를 사용하면 타원법 데이터 획득과 관련된 시간을 대폭 단축할 수 있으며, 계기 효율성과 처리량을 크게 향상시킬 수 있습니다. 향상된 데이터 보안 기능, 암호화 튜닝 (encrypted tuning), 예약된 메모리 (reserved memory) 를 통해 가장 민감한 데이터를 문제 없이 사용할 수 있습니다. L115는 선형 (linear) 및 비선형 (non-linear) 박막 샘플의 다양한 샘플 유형을 손쉽게 처리할 수 있으므로 학술 연구소, 연구 시설, 산업 및 생산 응용 프로그램에 적합합니다. 확대 된 샘플 크기와 다중 샘플 홀더 (sample holder) 는 예전보다 빠르게 측정하는 반면, 최적화된 광학 설계는 측정 시간을 최소화하여 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. GAERTNER L115 는 최첨단 기술로 제작되어 다양한 광학/표면 특성 (optical/surface properties) 의 종합적인 특성을 제공합니다. 첨단 기능, 직관적인 소프트웨어 시스템, 최첨단 광학 기술 (optical technology) 을 갖춘 이 타원계는 많은 연구 및 산업 응용에 필수적인 도구가되었습니다.