판매용 중고 GAERTNER L115 #9144443

GAERTNER L115는 현대 재료 연구를 위해 특별히 설계된 연구 등급 광학 타원계입니다. 빛이 표면에서 반사됨에 따라 빛의 편광 상태 (polarization state) 의 변화를 측정하고, 박막 재료의 광학 (optical) 및 표면 (surface) 특성에 대한 정보를 결정하는 데 사용됩니다. L115는 두 개의 편광 분석 필터와 컴퓨터가 제어하는 "편광 분석기 (polarizer-analyzer)" 어셈블리로 구성된 광학 헤드를 사용합니다. 이를 통해 GAERTNER L115 는 샘플과 상호 작용하면서 빛의 편광 상태의 변화를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 타원계는 8 ~ 85 ° 의 각도로 재료의 반사 및 투과 특성을 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 주변 공기, 진공, 가스 등 다양한 환경에서 샘플을 측정 할 수 있습니다. L115는 여러 샘플을 연속적으로 사용할 수 있는 자동화된 시스템을 갖추고 있습니다. 시스템은 샘플을 0.8nm 또는 8mm만큼 얇게 측정 할 수 있습니다. 또한, 계측시 샘플을 평평하게 유지하도록 설계된 백씬 (back-thin) 샘플 홀더가 장착되어 있습니다. GAERTNER L115는 DataFinder, EXcalibrator 및 XSpectra를 포함한 다양한 소프트웨어 패키지를 데이터 분석에 사용합니다. DataFinder는 L115의 실시간 및 과거 데이터를 처리, 표시 할 수 있으며, EXcalibrator는 샘플 준비를 돕고 반사율 (reflectance) 및 전송 (transmittance) 을 측정하는 기능을 제공합니다. XSpectra (XSpectra) 는 완전한 기능을 갖춘 소프트웨어 패키지로, 복잡한 재료 필름을 모델링하고 광학 진단을 수행할 수 있습니다. GAERTNER L115는 품질, 정확성 및 반복 성을 위해 만들어진 강력하고 다양한 타원계입니다. 광범위한 재료에 대해 정확하고 안정적인 측정을 제공하며, 표면 과학, 광학 전이 금속, 반도체, 광학 및 박막 재료 분석 (Thin film material analysis) 분야의 연구원들에게 이상적인 선택입니다.