판매용 중고 ELLIPSOTECH Elli-633-F70 #9249918

ELLIPSOTECH Elli-633-F70 Ellipsometer는 박막의 광학 특성과 광학 두께를 측정하기위한 공간 절약 및 고성능 기기입니다. 이 타원계는 산화물, 질화물, 금속 및 금속 합금과 같은 다양한 얇은 필름을 모니터링하는 데 일반적으로 적용되며, 샘플 두께는 0.3nm에서 4000nm 사이입니다. 타원계 (Ellipsometer) 의 혁신적인 설계는 사용하기 쉬운 창 기반 환경과 직관적인 사용자 인터페이스와 함께 매우 정확하고 정확한 레이저 및 샘플 스캐닝 시스템 (scanning system) 을 갖추고 있습니다. 이 시스템을 사용하면 넓은 샘플 영역에 걸쳐 다양한 박막 (Thin Film) 특성을 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. Ellipsometer는 광학 두께, 굴절률, 소멸 계수, 광학 상수, 방출 스펙트럼, 흡광도, 입사각, 필름 유형, 두께 균일성, 굴절률, 웨이브 가이드 수명, 레이어 간격 등을 포함한 여러 특성을 측정 할 수 있습니다. 이 측정은 시스템의 반복 성과 재생성 (reproutibility and reprodibility) 때문에 절대적인 자신감을 가지고 취할 수 있습니다. 타원계는 편광 된 레이저 빔을 사용하여 박막 광학 특성을 측정합니다. 입사 빔은 파장 633 nm의 Nd: YAG 레이저 소스에 의해 생성되며, s- 및 p- 편광 광으로 구성된다. 빛의 입사각도는 10 5 라디안 (radian) 의 각도 (angle sensitivity) 로 조정이 가능하여 사용자가 박막 (thin film) 의 광학 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 타원계 (Ellipsometer) 는 컴퓨터 제어 샘플 변환 단계 및 샘플 위치 검출기를 사용하여 정확한 샘플 위치 지정 및 최적의 입사각 (angle of incidence) 을 확인합니다. 이를 통해 기기는 정확도 및 반복성이 뛰어난 박막 (thin film) 의 광학 특성을 정확하게 측정할 수 있으며, 목표에 따라 시간 (hours), 일 (days), 심지어 수 개월 (month) 에 걸쳐 광학 특성을 정확하게 평가할 수 있습니다. 타원계 (Ellipsometer) 는 전문 소프트웨어에 대한 액세스 권한이 있는 네트워크 PC를 사용하여 원격으로 작동할 수도 있습니다. 이를 통해 사용자는 기기에 액세스하고 세계 어디서나 측정 (measuration) 을 수행할 수 있으므로 간단하고 복잡한 광학 측정을 모두 수행하는 것이 매우 쉽고 편리합니다. 타원계 (Ellipsometer) 는 작동이 간단하며 박막 특성 측정에 강력한 성능을 제공합니다. 업계를 선도하는 내구성과 견고성 (견고성) 으로 설계되어 장기간에 걸쳐 정확하고 안정적인 측정이 가능합니다. 광학 특성 (Optical Properties) 을 실시간으로 그래픽으로 표시하면 이 기기를 쉽게 사용할 수 있으며, 측정 시 최적의 광학 매개변수 (Optical Parameter) 를 신속하게 식별할 수 있습니다.