판매용 중고 DNS / DAINIPPON RE-800 #9293312

DNS/DAINIPPON RE-800은 박막 및 표면의 레이어 두께와 광학 특성을 측정하도록 설계된 타원계입니다. 이것은 박막 측정 분야에 혁명을 일으킨 혁신적인 도구입니다. DNS RE-800 (DNS RE-800) 은 타원 측정법 (ellipsometry) 의 개념에 기초하며, 물체나 샘플을 통해 반사 또는 전송될 때 광편광 방향의 변화를 측정합니다. DAINIPPON RE 800 (DAINIPPON RE 800) 은 표면에 다른 각도로 입사했을 때 광선 광선의 반사율 또는 투과율 변화를 측정하는 자동 전자 고니 오미터 (goniometer) 를 통합합니다. 이 정보를 통해 DAINIPPON RE-800은 레이어 두께, 굴절률, 광학 상수 및 기타 박막 및 기판의 광학 매개변수를 측정 할 수 있습니다. RE 800은 연구 실험실, 품질 관리 부서, 화학 산업 및 엔지니어링 부서에 사용하도록 설계되었습니다. 정밀도 및 정확도 0.01 nm의 1 nm ~ 1000 nm 두께의 필름을 측정 할 수 있습니다. RE-800은 또한 단일 필름, 2 층, 다중 레이어 및 등급 필름과 같은 다양한 샘플 유형과 호환됩니다. DNS/DAINIPPON RE 800 (DNS/DAINIPPON RE 800) 은 일련의 독특한 기능을 갖춘 매우 정교한 장비로, 연구 실험실에 이상적인 선택입니다. DNS RE 800에는 특허를받은 단일 반사 타원계 (single reflection ellipsometer) 방법이 있으며, 이는 굴절률 (refractive index) 또는 광학 상수 (optical constant) 매개변수로 측정하여 시간 효율적이고 비용 효율적인 옵션을 제공합니다. 또한 독특한 표면 영역 보정 알고리즘 (surface-area correction algorithm) 을 갖추고 있어 다양한 샘플 크기에 걸쳐 필름 특성을 정확하고 정확하게 측정할 수 있습니다. DNS/DAINIPPON RE-800 (DNS/DAINIPPON RE-800) 은 설치 및 작동이 용이하여 박막 측정에 경험이 없는 연구원에게 이상적입니다. 이 장치에는 설치 프로세스를 간소화하고, 필요한 모든 정보를 제공하고, 데이터 분석을 용이하게 하는 종합적인 터치스크린 인터페이스 (touchscreen interface) 가 제공됩니다. 또한, 통합 온라인 기술 자료 (Online Knowledge Base) 는 문제 해결 및 보정을 지원하므로 사용자가 자신감을 가지고 실험을 수행할 수 있습니다. 결론적으로 DNS RE-800 (DNS RE-800) 은 박막 및 표면의 정확한 측정을 위해 설계된 안정적이고 비용 효율적인 타원계입니다. 정교한 디자인 및 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 연구 개발 실험실, 화학, 엔지니어링 부서에 이상적인 선택이 됩니다.