판매용 중고 WANDEL & GOLTERMANN K757 #9352502

WANDEL&GOLTERMANN K757은 고주파 장치 분석을위한 전자 테스트 장비입니다. 이 장치는 주파수 제어 변조 (Frequency-controlled modulation) 기술을 사용하여 장치의 크기 및 위상 반응을 측정합니다. 구성 요소 또는 집적 회로에서 초고주파 (UHF) 회로를 테스트하는 데 적합합니다. K757은 주파수 제어 변조 기법을 사용하며, 1 차 신호는 1 차 신호, 참조 신호는 2 차 주파수를 사용합니다. 기본 신호 (primary signal) 가 테스트 중인 장치에 적용되고 참조 신호 (reference signal) 가 장치 출력을 측정하는 데 사용됩니다. 그런 다음, 출력 (output) 을 참조 신호와 비교하여 테스트 중인 장치의 크기와 위상을 측정할 수 있습니다. WANDEL&GOLTERMANN K757은 DC ~ 1GHz 주파수 응답을 측정 할 수 있으며, 이는 무선 주파수 기기의 고주파 구성 요소를 테스트하는 데 유용합니다. K757은 또한 2 채널 리시버 체인 (내장 앰프 및 필터 포함) 을 갖추고 있어 광범위한 이득 및 대역폭 조정성을 제공합니다. WANDEL&GOLTERMANN K757은 기존 및 벡터 수신기를 모두 지원합니다. K757은 내장형 고해상도 디스플레이 (High Resolution Display) 를 통해 테스트 중인 장치의 입력 및 출력 신호를 정확하게 비교할 수 있습니다. 이 디스플레이를 사용하여 장치의 선형성, 왜곡 수준 (level of distortion) 을 판단할 수 있습니다. WANDEL&GOLTERMANN K757에는 외부 테스트 프로브 또는 기기 연결을위한 테스트 포트, 변조 평가를위한 소스 포트 (source port) 도 있습니다. K757 은 고주파 (High Frequency) 디바이스 테스트를 위한 탁월한 선택으로, 다양한 측정 기능을 제공하며 다양한 입출력 (Input and Output) 테스트를 지원합니다. 이 제품은 엔지니어링 및 제조 환경에 모두 적합하며, 안정적이고 다양한 테스트 솔루션을 제공합니다.