판매용 중고 TIME ELECTRONICS 5018 #9107766

TIME ELECTRONICS 5018은 임베디드 전자 제품의 작동 테스트, 교정, 문제 해결을 위해 설계된 고급 전자 테스트 장비입니다. 5018 은 다양한 기능을 제공하는 고급 플랫폼 (Advanced Platform) 에 구축되어 있어 라이브 신호를 정확하게 측정하고, 자체 테스트 시나리오를 생성하며, 테스트 데이터를 저장할 수 있습니다. TIME ELECTRONICS 5018은 전압, 전류, 전력, 저항 측정 등 다양한 전자 테스트 기능을 수행하도록 설계되었습니다. 또한, 장치는 임베디드 전자 회로의 전압 주파수, 위상, 게인 및 기타 특성을 측정 할 수 있습니다. 5018에는 내장형 속도계가 장착되어 있어 테스트 중 장치의 속도를 손쉽게 모니터링할 수 있습니다 (영문). 이를 통해 사용자는 신호 속도를 정확하게 측정하고 예상치 못한 빠른 신호 (fast signal) 에 신속하게 반응할 수 있습니다. 사용자에게 다양한 기능을 제공하기 위해 TIME ELECTRONICS 5018에는 프로그래밍 가능한 매개 변수 및 프로그래밍 인터페이스도 있습니다. 이 기능을 사용하면 내장 매크로 (BIST) 및 사용자 정의 설정으로 디바이스를 사용자 정의하여 특정 요구를 충족할 수 있습니다. 또한 고급 사용자 인터페이스 (Advanced User Interface) 를 통해 디바이스 구성을 빠르게 설정하고 손쉽게 조정할 수 있습니다. 또한 5018 에는 다양한 데이터 수집 기능이 포함되어 있어 테스트 후 (post-test) 분석을 위해 파형을 기록하고 저장할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 신호 특성을 자세히 분석 할 수있는 통합 고속 디지털 오실로스코프를 제공합니다. 오실로스코프 (oscilloscope) 는 특정 신호 또는 이벤트를 트리거하고 전류 또는 전압 수준을 모니터링하는 데 사용될 수도 있습니다. 안전을 위해 TIME ELECTRONICS 5018에는 내장 지상 결함, 배터리 보호 시스템, 교정 퓨즈 등 다양한 안전 기능이 장착되어 있습니다. 또한이 장치에는 몇 가지 고급 알고리즘과 최대 20MHz의 오실로스코프 해상도 (Oscilloscope Resolution) 가 포함되어 있어 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 이렇게 하면 사용자가 신속하게 오류를 파악하고, 연결된 시스템 또는 구성요소를 손상시킬 위험을 줄일 수 있습니다. 또한 5018 에는 보다 효율적인 테스트와 유연성 향상을 위해 내장형 고정장치 (BIST) 와 프로브 (Probe) 가 종합적으로 선택되어 있습니다. 이 장치에는 -20C ~ 85C의 통합 자기 차폐, 조절 가능한 온도 범위가 제공됩니다. 마지막으로 TIME ELECTRONICS 5018 은 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 통합된 도움말 시스템 (help system) 을 통해 이 장치를 쉽게 배우고 사용할 수 있습니다. 즉, 빠른 시작 (start-up) 을 보장하며 특정 테스트 및 문제 해결 요구에 맞게 툴의 성능을 극대화할 수 있습니다.