판매용 중고 TESCOM TC-5062A #162643

TESCOM TC-5062A
ID: 162643
Broadband TEM cell.
TESCOM TC-5062A는 칩, 마이크로 프로세서 및 기타 집적 회로 (IC) 와 같은 전자 장치의 완전 자동 테스트 및 특성을 제공하도록 설계된 Advanced Automated Test Station입니다. TC-5062A (TC-5062A) 는 다양한 전자 부품에 대한 선택적 파형 분석 및 파형 측정을 제공하는, 다양한 매개변수를 지원하는 매우 정교한 도구입니다. 새로운 구성 요소와 혁신적인 구성 요소의 테스트와 특성을 향상시키는 다양한 전문 프로그램 (specialized program) 도 갖추고 있습니다. 악기는 복잡한 파형을 해석하는 다기능 디스플레이 (Multi-Functional Display) 를 가지며, 악기의 내부 메모리에 파형 데이터를 저장할 수 있습니다. TESCOM TC-5062A는 또한 파형 뷰어를 제공하여 사용자가 실시간 파형 및 파형 트렌드를 시각화 할 수 있습니다. 이 디스플레이는 외부 프로브 (external probe) 와 결합하여 다양한 테스트 고정장치 (test fixture) 에 연결하여 여러 노드를 동시에 측정할 수 있습니다. TC-5062A (TC-5062A) 는 견고하고 안정적인 플랫폼 설계를 기반으로 설계되었으며, 광범위한 환경 조건에서 적절한 운영을 보장합니다. 편리한 GUI (Graphical User Interface) 가 포함되어 있어 편리하고 편리한 메뉴 옵션을 제공합니다. 이 기기는 최신 디지털 (digital) 및 아날로그 (analog) 부품을 사용하여 가장 정확한 파형 측정을 가능하게하므로 IC 테스트 및 특성화에 적합합니다. 또한 강력한 CPU 및 전용 디지털 신호 처리를 통해 복잡한 파형을 분석, 해석할 수 있습니다. TESCOM TC-5062A는 고급 설정 및 프로그래밍 기능, 수학적 파형 분석, 고해상도 파형 기록, 자동 데이터 전송을 위한 PC 호환 통신 인터페이스, 소프트웨어 구성을 위한 맞춤형 장치 라이브러리 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 기기는 신뢰할 수 있고 비용 효율적인 IC 테스트 솔루션을 필요로 하는 반도체 제조업체, 디자인 하우스, 테스트 엔지니어에게 이상적인 솔루션입니다. 강력한 기능과 높은 수준의 정확성을 자랑하는 TC-5062A 는 새로운 IC 설계와 기존 IC 설계의 테스트, 디버깅, 문제 해결을 위한 완벽한 솔루션을 제공합니다.
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