판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON TEB407 #293660519

TEL/TOKYO ELECTRON TEB407은 반도체 장치의 측정 및 특성을 촉진하기 위해 설계된 전자 테스트 장비입니다. TEL TEB407 테스트 장비 (TEL TEB407 Test Equipment) 는 엔지니어가 집적 회로, 아날로그 부품 및 기타 유형의 반도체를 테스트하고 특성화하는 다양한 기능을 제공합니다. TOKYO ELECTRON TEB407은 DC 및 AC 측정을 모두 측정 할 수있는 0.100mA (최대 40V) 의 저전류 및 고전압 테스트 기능을 제공합니다. 이 기계는 또한 높은 샘플링 속도 (최대 20kHz) 를 통해 전류 및 전압 측정에 대한 정확한 해상도를 제공합니다. 또한, TEB407은 최대 150kHz의 고주파 응답을 자랑하며, 사용자는 분석을위한 고속 트랜지스터 특성과 안정적인 소스 측정을 위해 캡처 할 수 있습니다. TEL/TOKYO ELECTRON TEB407은 CPU, 논리, 메모리 테스터와 같은 다양한 테스트 모듈과 호환되며, 여러 개의 입력/출력 기능을 가진 보다 복잡한 시스템을 테스트할 수 있습니다. 여기에는 EPSON 제작 그래픽 디스플레이 모듈이 내장되어 있어 실시간 측정 (measurement) 을 관찰 할 수 있습니다. 이 시스템은 FLP 계산기 (FLP Calculator) 와 같은 여러 소프트웨어 옵션으로 지원됩니다. 이 계산기 (Calculator) 를 사용하면 반도체 매개변수와 다양한 평가 기능을 가진 분석기를 정확하게 계산할 수 있습니다. TEL TEB407 (TEL TEB407) 은 신뢰할 수 있고 컴팩트한 테스트 유닛으로, 반도체 장치 제조업체의 요구 사항을 충족하는 다양한 테스트 및 특성 기능을 제공합니다. 실험실, 생산 라인, 시스템 내 테스트 응용 프로그램에 사용할 수 있으며, 구성 요소 측정에 더 높은 효율성과 신뢰성을 제공합니다. 이 시스템의 유연성을 통해 사용자는 맞춤형 테스트 프로그램을 개발하여 최소한의 노력으로 정확하고 반복 가능한 테스트 분석 (test analysis) 을 만들 수 있습니다. 이를 통해 TOKYO ELECTRON TEB407은 반도체 장치의 특징, 분석을 원하는 기술자와 엔지니어에게 편리하고 비용 효율적인 옵션입니다.