판매용 중고 TEKTRONIX TDS 3034C #9363676

TEKTRONIX TDS 3034C는 다양한 신호를 측정하고 분석하는 데 사용되는 전자 테스트 장비 (Electronic Test Equipment) 입니다. 4 개의 아날로그 채널이 있으며 4 개의 채널 모두에서 동시에 1 개의 GS/s 샘플링이 가능합니다. 또한, TDS 3034C는 3 개의 실시간 채널을 갖춘 디지털 실시간 범위를 가지고 있으며, 다양한 전기 파형 세그먼트 크기와 신호 주파수를 캡처 및 표시 할 수 있습니다. TEKTRONIX TDS 3034C는 4 개의 아날로그 채널과 3 개의 디지털 실시간 채널을 제공하며, 각각 최대 100MHz의 전기 파형 측정을 캡처하고 표시합니다. 네 개의 아날로그 채널에는 모두 [범용 I/O] 연결이 있으며 수직, 수평 및 보조 컨트롤 외에도 입력을 트리거합니다. 성능 및 안정성을 확인하기 위해 장치를 보정하는 보정 테스트 (calibration testing) 기능이 포함되어 있습니다. 또한, TDS 3034C에는 고급 트리거링 옵션이 있어 복잡한 파형 캡처 및 분석이 가능합니다. 단일 샷 및 반복 트리거가 모두 가능합니다. 출력 측면에서, TEKTRONIX TDS 3034C는 다양한 소프트웨어 및 주변 장치와 함께 제공되어 보안 신호 캡처 및 분석을 용이하게합니다. 이 장치에는 주파수, 시간, 진폭 및 기타 값을 측정하는 데 사용할 수있는 측정 함수 라이브러리 (library of measurement function) 가 있습니다. 전체 기기 제어 및 원격 작동을 위해 PC 기반 자동화 소프트웨어와 호환됩니다. TDS 3034C 에는 입력 신호의 무결성을 평가하기 위한 다양한 Probe 솔루션이 있습니다. TekVPI ™ 프로브에는 최대 2GHz의 대역폭이 제공되며, 까다로운 어플리케이션에서 탁월한 성능을 제공합니다. 프로브에는 유연한 팁 피어싱 (tip piering) 이 제공되며, 이를 통해 사용자는 어색하거나 모호한 위치에 연결할 수 있습니다. TEKTRONIX TDS 3034C는 매우 정확하여 사용자에게 안정적이고 정확한 결과를 제공합니다. 노이즈를 제거하고 신호 대 노이즈 비율을 높이는 높은 동적 범위를 특징으로합니다. 또한, 이 기기의 고속 획득 속도는 시간이 지남에 따라 신속한 인수를 허용하며, 이는 측정하기 어려운 신호를 묘사하는 데 이상적입니다. 마지막으로 TDS 3034C 에는 다양한 데이터 시각화 및 분석 툴을 제공하는 TDSLab (tm) 과 같은 포괄적인 소프트웨어 제품군이 포함되어 있습니다. 또한, TEKTRONIX TDS 3034C를 보완하기위한 부품은 신호 생성기, 증폭기, 트랜시버 및 기타 호환 가능한 장치와 같이 별도로 구입할 수 있습니다. TDS 3034C 는 다용도로, 산업 및 학술 실험실 환경의 요구를 모두 충족하도록 설계되었습니다.