판매용 중고 TEKTRONIX TDS 3032 #177625

TEKTRONIX TDS 3032는 아날로그 및 디지털 회로 설계, 분석 및 개발에 널리 사용되는 고성능 DSO (Digital Storage oscope) 입니다. 3GSa/s 샘플링 속도, 4 채널 작동 및 5M 레코드 길이를 사용하면 아날로그 및 디지털 소스에서 신호를 캡처 및 측정하는 데 이상적입니다. TDS 3032에는 사용자 친화적인 컬러 LCD 터치스크린 디스플레이가 있어 작업 및 탐색 기능을 직관적으로 사용할 수 있으며, 사용자가 선호하는 설정으로 쉽게 구성할 수 있습니다. 탁월한 트리거링 기능 외에도 TEKTRONIX TDS 3032에는 TD (Time Domain) 및 FD (Frequency Domain) 확대/축소 기능이 있으며, 이를 통해 사용자는 파형의 특정 부분에 집중할 수 있습니다. TDS 3032의 다른 기능 및 사양에는 16 비트 수직 해상도, 8 비트 수평 해상도 및 10MV/div에서 20V/div의 수직 스케일 범위가 포함됩니다. 또한 4 개 채널 모두에서 200MHz 대역폭, 최소 33MHz 상승 시간 및 1GS/s의 샘플링 속도를 제공합니다. 또한 TEKTRONIX TDS 3032는 선택 가능한 파형 보간 및 10 개의 파형 메모리를 사용하여 파형을 비교할 수 있습니다. TDS 3032는 파형 측정, 파형 수학, 게이트 측정, FFT, 디지털 필터링 및 파형 캡처를위한 세그먼트 메모리를 포함하여 광범위한 디스플레이 및 분석 기능을 제공합니다. 또한 전체 시스템 평가를 위해 작은 파형 디테일 (details) 과 꼬리 끝 (tail-end) 신호를 보여주는 우수한 파형 지속성을 제공합니다. TEKTRONIX TDS 3032의 고급 수직 해상도 (Advanced Vertical Resolution) 및 소프트웨어 제품군을 사용하면 빠르게 변화하고 낮은 수준의 신호를 분석할 수 있습니다. TDS 3032 의 고급 시스템 분석 기능은 디지털 설계 검증 (Digital Design Validation), 디버깅 (Debugging), 제조 테스트 및 통합 (Manufacturing Test and Integration) 등 여러 애플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 파형을 측정 및 분석하는 능력은 전기 장비 테스트, 레이더 테스트, 차량 제어 시스템 테스트에 유용합니다. 또한 항공 우주 및 국방 산업에서 새로운 무선 주파수 (RF) 및 통신 시스템 테스트에 유용합니다. 전체적으로 TEKTRONIX TDS 3032는 정확한 파형 분석을 원하는 사용자에게 정확하고, 안정적이며, 강력한 DSO 옵션입니다. 사용 편이성과 다용성을 통해 다양한 유형의 테스트/측정 (Test/Measuration) 애플리케이션을 선택할 수 있습니다.