판매용 중고 TEKTRONIX SJ300E/03/3C #107568

TEKTRONIX SJ300E/03/3C
ID: 107568
sonet / SDH jitter / wander analyzer, opt. 03/3C.
TEKTRONIX SJ300E/03/3C는 릴 및 반도체 부품의 특성을 측정하도록 설계된 전자 테스트 장비입니다. 이 다기능 (다기능) 장비는 품질 관리 (Quality control) 의 까다로운 요구 사항을 충족하고 제조 환경에서 프로세스 모니터링을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 3 차원 이미징, 디지털 속도 제어, 오류 보정을 통해 거의 모든 유형의 부품을 정확하고 안정적으로 측정할 수 있습니다. 이 시스템은 3 가지 이미징 기술 (섀도우 이미지, 이미징 광학 질량 측정, 디지털 속도 제어, 오류 수정) 을 사용하여 3 차원 특성을 정확하게 포착합니다. 물체의 특성. 이미징 광학 및 디지털 속도 제어를 사용하여이 장치는 0.5 ~ 40mm 범위의 부품에 대해 미크론 (micron) 내에서 의미있는 측정을 할 수 있습니다. 이 다재다능한 단위는 다양한 샘플 크기를 측정할 수 있으며, 릴 (reeled) 또는 반도체 (semiconductor) 의 형태를 측정할 수 있습니다. 이미징 광학을 사용하여 SF300E/03/3C 는 샘플의 볼륨, 표면 영역, 두께를 측정할 수 있으며, 포장에 필요한 페이스트 볼륨을 정확하게 결정하고, 샘플의 구조적 무결성 (structural integrity) 을 파악할 수 있습니다. 또한, 기계는 샘플 내에서 결함 및 비 균일성을 감지 할 수 있습니다. 빨간색 조명 다이오드 (red light diode) 를 사용하여 공구는 표면 결함 영역을 측정하여 QC 또는 프로세스 모니터링에 이상적인 선택이 될 수 있습니다. SF300E/03/3C 가 제공하는 디지털 속도 제어 (Digital Speed Control) 는 전체 샘플이 일정한 속도로 이동하도록 하며, 여러 측정이 순서대로 수행되는 동시에 속도 제어를 지속적으로 조정할 필요가 없습니다. 이 장치에는 오류 수정 에셋 (error correction asset) 도 있습니다. 이 에셋 (error correction asset) 은 작은 오류나 프로세스 변형을 즉시 감지하고 수정하여 잘못된 결과와 제품 불일치의 위험을 최소화합니다. TEKTRONIX SJ300E/03/3C 는 신뢰할 수 있는 경제적인 장치로, 기존 품질 관리 프레임워크에 빠르고 쉽게 통합할 수 있습니다. 강력한 이미징 옵틱과 디지털 스피드 컨트롤 (Digital Speed Control) 은 매우 정확하여 다양한 샘플 크기와 모양을 정확하게 측정 할 수 있습니다. '오류 수정 모델 (error correction model)' 을 통해 작은 오류를 즉시 감지하고 수정하여 일관된 결과를 보장하고 운영 문제의 위험을 줄일 수 있습니다. TEKTRONIX SJ300E/03/3C는 모든 QC 또는 프로세스 모니터링 어플리케이션에 적합한 신뢰성, 다용도, 비용 효율적인 장비입니다.
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