판매용 중고 TEKTRONIX P7504 #293817170

TEKTRONIX P7504는 전자 테스트 및 측정 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 정밀하고 고성능 액티브 프로브 (Active Probe) 입니다. 고속 디지털 회로에서 신호를 조사하기 위해 특별히 개발되었으며, 회로 성능 문제 해결, 분석, 검증을위한 정확하고 신뢰할 수 있는 측정값을 제공합니다. P7504 활성 프로브는 높은 입력 임피던스 (input impedance) 와 낮은 입력 커패시턴스 (input capacitance) 를 제공하여 신호 로딩을 최소화하고 테스트중인 회로에 영향을 미치지 않고 정확한 신호 캡처를 보장합니다. 따라서 고속 디지털 디자인 (예: 마이크로프로세서, 메모리 시스템, 통신 장비) 에서 신호를 측정하는 데 적합합니다. TEKTRONIX P7504의 주요 기능 중 하나는 광대역으로, 최대 4GHz까지 확장됩니다. 이를 통해 프로브는 빠른 시간 신호 (fast-rise time signal) 와 고주파 (high-frequency) 부품을 정확하게 캡처하여 고속 디지털 시스템의 신호를 조사하는 데 이상적입니다. 고대역폭 (high bandwidth of the probe) 을 통해 사용자는 최소한의 왜곡으로 신호를 캡처하고 신호 특성을 자세히 파악할 수 있습니다. 넓은 대역폭 외에도, P7504 활성 프로브는 높은 입력 임피던스 (impedance) 덕분에 낮은 프로브 로딩 효과를 제공합니다. 이를 통해 프로브 (Probe) 는 테스트 중인 회로에 큰 영향을 미치지 않으므로 사용자가 프로브 자체로 인한 신호 무결성 (Signal Integrity) 문제에 대해 걱정하지 않고 정확한 측정을 할 수 있습니다. TEKTRONIX P7504 액티브 프로브 (Active Probe) 는 컴팩트하고 인체 공학적 인 디자인을 특징으로하며 다양한 테스트 시나리오에서 사용하기 쉽고 처리합니다. 프로브 (Probe) 의 컴팩트 한 크기로 회로 기판의 단단한 공간에 액세스할 수 있으며, 번거롭지 않은 테스트 포인트 (Test Point) 를 탐색할 수 있습니다. 또한, 프로브의 인체 공학적 디자인은 장기 테스트 세션 동안 편안한 사용을 보장하며, 운영자의 피로를 줄이고, 전반적인 생산성을 향상시킵니다. P7504 활성 프로브의 또 다른 주목할만한 특징은 TEKTRONIX 오실로스코프 및 기타 테스트 기기와의 호환성입니다. 프로브는 전용 인터페이스 연결을 통해 TEKTRONIX 오실로스코프 (oscilloscope) 에 쉽게 연결할 수 있으며, 원활한 통합을 제공하며, 사용자가 포괄적인 신호 분석을 위해 프로브와 오실로스코프의 모든 기능을 활용할 수 있습니다. 전반적으로 TEKTRONIX P7504 액티브 프로브 (Active Probe) 는 전자 테스트 및 측정 분야에서 일하는 엔지니어 및 기술자에게 다양하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 고대역폭, 저부하 효과, 컴팩트한 디자인, TEKTRONIX 오실로스코프와의 호환성을 통해 고속 디지털 회로에서 신호를 조사하고 다양한 어플리케이션에 대한 정확하고 정확한 측정을 위한 최적의 선택입니다. 고급 기능과 강력한 성능을 갖춘 P7504 액티브 프로브 (Active Probe) 는 까다로운 테스트 환경에 적합하며 복잡한 전자 시스템을 진단하고 분석하는 데 유용한 툴을 제공합니다.