판매용 중고 TEKTRONIX 80C08C #9084665

TEKTRONIX 80C08C는 복잡한 회로 설계 및 아키텍처를 테스트하는 데 이상적인 고급 다기능 전자 테스트 장비입니다. 80C08C는 특성화, 디버깅, 고성능 혼합 모드 회로 검증 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치는 고급 신호 처리 회로 (signal-processing circuit) 의 특성, 전원 관리 컨트롤러 검증, 고속 신호 경로 평가 등 다양한 어플리케이션에 맞게 구성할 수 있습니다. 이러한 기능의 조합은 복잡한 전자 회로 구조의 설계, 개발, 검증에 이상적인 선택입니다. TEKTRONIX 80C08C는 사용이 간편한 단일 메뉴 시스템에서 여러 테스트 매개변수를 관리하기 위한 통합 소프트웨어 플랫폼을 갖추고 있습니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 는 테스트 매개변수를 관리하고 테스트 프로세스를 단순화하는 효율적이고 효과적인 방법을 제공합니다. 또한 엄격한 디버그 및 검증 (validation) 매개 변수 데이터베이스를 제공하여 성공적인 테스트 완료를 보장합니다. 타의 추종을 불허하는 기능 (feature set) 을 통해 최소한의 연산자 입력으로 테스트 (test) 를 수행할 수 있습니다. 또한, 80C08C는 검증된 테스트 방법론과 테스트 계획 (Test Plan) 개발을 신속하게 구현하여 테스트 결과의 일관성을 높이고, 특성화의 정확성을 향상시킵니다. TEKTRONIX 80C08C는 회로 요소를 실시간으로 분석하기위한 혁신적인 고속 프로빙 시스템을 갖추고 있습니다. 엔지니어 (Engineer) 는 이 모듈을 사용하여 테스트 레이아웃을 최소화하면서 전자 부품의 동작을 빠르고 정확하게 확인할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 자동화된 테스트 루틴 (test routine) 을 통합하여 엔지니어가 복잡한 기능을 신속하게 분석하고 회로 설계의 효과와 기능을 정확하게 평가할 수 있습니다. 80C08C는 엔지니어가 실시간으로 신호를 캡처하고 분석할 수 있도록 고성능, 다중 모드 오실로스코프를 제공합니다. 이 장치에는 크기 (magnitude), 위상 트리거 (phase trigger) 등 다양한 고급 줌 함수 (zoom function) 와 회로가 테스트되는 동안 오실로스코프 추적을 캡처하고 저장할 수 있습니다. 또한 3D 관찰, Bode 다이어그램, 전송 기능 측정과 같은 다양한 측정 및 분석 도구를 제공하여 엔지니어가 최소 사용자 입력으로 설계를 정확하게 시각화, 분석, 검증할 수 있습니다. 이 장치는 또한 최신 RF 엔지니어를위한 다양한 RF 분석 기능을 제공합니다. 9kHz ~ 8GHz 범위의 다양한 주파수를 제공하여 엔지니어가 동시 방송 및 범위 기반 구성 요소에 대한 자세한 분석을 수행할 수 있습니다. 내부 데이터 로거 (internal data logger) 를 사용하면 장기 평가 및 비교 연구를 위해 데이터를 기록하고 저장할 수 있습니다. 첨단 소프트웨어 툴을 통해 엔지니어는 이득 (gain), 위상 (phase), 키 주파수 (key frequency) 성능을 빠르고 정확하게 평가할 수 있습니다. 결론적으로, TEKTRONIX 80C08C 는 고성능 설계를 위한 최신 테스트/검증 기능이 필요한 엔지니어/엔지니어에게 이상적인 툴입니다. 광범위한 기능과 다양한 하드웨어/소프트웨어 옵션 (하드웨어/소프트웨어 옵션) 을 제공하므로, 엔지니어가 빠르고 정확하게 설계를 평가할 수 있고, 테스트도 손쉽게 구성하고 수정할 수 있습니다. 고급 회로, 직관적인 사용자 인터페이스, 자동화된 테스트 루틴 (automated test routine) 을 통해 테스트가 성공적으로 완료되도록 효율적이고 효과적인 방법을 제공합니다.