판매용 중고 TEKNOLOGUE LX 4652C #9315430

TEKNOLOGUE LX 4652C는 고주파 신호를 측정하고 테스트하기 위해 설계된 정교한 전자 테스트 장비입니다. 이 장치는 통합 하드웨어 인 루프 (hardware-in-loop), 실시간 디지털 신호 처리 및 전자 측정 기능을 갖추고 있으므로 현대 전자 제품의 연구, 테스트 및 디버깅에 이상적인 도구입니다. TEKNOLOGUE LX 4652C의 주요 기능에는 7GHz 주파수 범위, 6GHz 즉각적인 대역폭, 5GS/s 샘플링 속도, 64 채널 및 최대 4GB의 데이터 스토리지가 포함됩니다. 이 장치는 또한 스펙트럼 분석, TDR 분석, 주파수 응답 분석 및 펄스 너비/지연 측정과 같은 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 또한 실시간 오류 벡터 분석 및 위상 노이즈 테스트를 제공합니다. 이 하드웨어에는 강력한 프로세서, 다양한 RAM (RAM), 대형 하드 드라이브 (하드 드라이브) 가 포함되어 있어 부드럽고 포괄적인 신호 분석 및 데이터 수집이 가능합니다. TEKNOLOGUE LX 4652C는 광범위한 테스트 응용 프로그램을 위해 설계되었습니다. 회로 테스트, 반품 손실, VSWR, 주파수 응답, 펄스 폭, 시간 지연 등 범용 테스트에 사용할 수 있습니다. 또한 전자 부품 및 장치의 실험실 특성화를위한 통합 계측이 특징입니다. 이 장치는 매우 복잡한 테스트를 수행하는 편리하고 유연한 플랫폼을 제공하여 연구 (research) 또는 품질 보증 (quality assurance) 실험실에 적합합니다. LX 4652C에는 내장형 디지털 아날로그 인터페이스가 장착되어 있어 다양한 외부 기기와 호환됩니다. 여기에는 ArbLink 지원이 포함되어 있어 외부 오실로스코프에 장치를 쉽게 연결할 수 있습니다. 또한 여러 채널을 동시에 모니터링할 수 있어, 더욱 신속하고 상세한 분석을 가능하게 합니다. 이 장치에는 안전성과 정확성을 보장하기 위해 설계된 다양한 안전 (safety) 기능이 장착되어 있습니다. 여기에는 80 dBm 민감도 범위와 과열 및 과열 보호를 위해 사전 프로그래밍 된 인터 록이 포함됩니다. TEKNOLOGUE LX 4652C는 실험실 테스트, 무선 주파수 테스트, 신호 분석, 구성 요소 테스트 등 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. 이 장치는 또한 제조, 기타 응용 프로그램 등의 디버깅, 검증, 인증에 정기적으로 사용됩니다. 견고한 디자인, 안정적인 성능, 정확한 판독값을 자랑하며, 성공적인 전자 테스트, 검증 경험을 보장합니다.