판매용 중고 TEKNOLOGUE LX 4652C #9145005

TEKNOLOGUE LX 4652C는 TEKNOLOGUE의 고급 전자 테스트 장비로, 복잡한 RF 및 마이크로파 부품 및 시스템의 측정 및 품질 모니터링을 위해 설계되었습니다. 정확하고 안정적인 스펙트럼 측정이 가능하며, 넓은 주파수 (frequency) 범위에서 높은 성능을 제공합니다. LX 4652C는 기본 스펙트럼 특성화부터 펄스 (pulsed) 및 정상 상태 (steady-state) 신호의 복잡한 측정까지 다양한 측정 기능을 제공하는 다기능 도구입니다. TEKNOLOGUE LX 4652C에는 정확한 주파수 측정을 위해 고감도, 저소음 증폭기가 장착되어 있습니다. 또한 측정 대역폭이 최대 70dB인 다양한 동적 범위를 제공하며, 최대 90dB의 비선형 왜곡 (non-linear distortion) 을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 신호 품질에서 가장 미묘한 변경 사항까지 감지하거나 모니터링할 수 있습니다 (영문). 또한, 광대역 DDS (Direct Digital Synthesizer) 에서 고속 샘플링을 제공하여 정확하고 안정적인 주파수 측정을 수행합니다. LX 4652C는 강력한 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 도 갖추고 있습니다. 이 GUI 는 다양한 방식으로 구성 요소를 신속하게 식별, 분석, 모니터링하는 데 도움이 되는 다양한 맞춤형 디스플레이 설정과 뷰를 제공합니다. 또한 GUI 를 통해 측정값을 쉽고 빠르게 설정할 수 있으며, 이를 통해 귀중한 시간을 절약할 수 있습니다. TEKNOLOGUE LX 4652C는 광범위한 신호 분석 기능을 제공합니다. 여기에는 신호 대 노이즈 비율, 위상 노이즈, 3 차 상호 변조 왜곡, 반환 손실, 그룹 지연 스프레드, 시간 영역 분석, 고조파 왜곡, 봉투 응답 등과 같은 매개 변수가 포함됩니다. 기기는 또한 신호의 완전한 특성에 대한 RF 벡터 네트워크 분석을 지원합니다. 전반적으로 LX 4652C는 하이엔드 어플리케이션을 위한 탁월한 전자 테스트 장비입니다. 넓은 주파수 범위, 높은 동적 범위, 다양한 측정 기능 및 강력한 GUI를 통해 TEKNOLOGUE LX 4652C는 RF 및 마이크로파 구성 요소 및 시스템을 정확하게 측정하고 모니터링하는 데 적합한 선택입니다.